Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 11 - 20 из 5463 для dc.subject any/relevant "доклады конфере ... ( 0.580 сек.)

11
Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование: [посвящ. 70-летию со дня рождения А. А. Орликовского] / Физико-технологический институт РАН; отв. ред. В. Ф. Лукичев. — М.: Наука, 2008. — 246, [1] с.: ил.; 24 см. — (Труды ФТИАН / Рос. акад. наук, Физ.-технол. ин-т ; гл. ред. К. А. Валиев, 0868-7129). — Библиогр. в конце ст. — ISBN 978-5-02-036641-1: 229.50 р.
Сборник посвящен актуальным проблемам математического моделирования субмикронных технологий и квантовых наноприборов. Основное внимание уделено наиболее важным проблемам, таким как фотолитография, травление и осаждение тонких пленок, электронная литография, надежность соединений и корпусов микросхем, квантовое поведение нанотранзисторов. Отдельно рассмотрены квантовые модели структур с пониженной размерностью, спиновых структур, методы квантовой обработки и передачи информации, в частности квантовой криптографии. Обсуждается возможность построения полномасштабного твердотельного квантового компьютера на ядерных спинах кремния. Для специалистов в области микро- и наноэлектроники, аспирантов и студентов старших курсов соответствующих специальностей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
12
Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование: [сб. ст.] / отв. ред. А. А. Орликовский. — М.: Наука, 2005. — 414,[1] с.: ил.; 24 см. — (Труды ФТИАН / Рос. акад. наук, Физ.-технол. ин-т ; гл. ред. К. А. Валиев, 0868-7129). — Библиогр. в конце ст. — ISBN 5-02-033950-4: 194.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
13
Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование: [сб. ст.] / отв. ред. А. А. Орликовский. — М.: Наука, 2009. — 177 с.: ил. — (Труды ФТИАН / Рос. акад. наук, Физ.-технол. ин-т ; гл. ред. К. А. Валиев, 0868-7129). — Библиогр. в конце ст. — ISBN 978-5-02-036976-4: 292.50 р.
Сборник, посвященный 20-летию Физико-технологического института РАН, включает в себя статьи по актуальным проблемам микро- и наноэлектроники, микро- и наноэлектромеханики и твердотельных квантовых компьютеров. Рассмотрены перспективы реализации полномасштабных квантовых компьютеров на ионных ловушках в твердотельных структурах, проанализирован перенос электрона в одномерных многоямных структурах. Особое внимание уделено важнейшим вопросам физики и моделирования нанотранзисторов (кремниевые в ультратонком кремнии на изоляторе, туннельные, с графеновым каналом и др.). Исследованы межподзонные оптические переходы в структурах с разрывом запрещенной зоны. Представлены статьи по моделированию электромиграционного разрушения тонкопленочных проводников, прочности границы соединенных материалов в зависимости от их микроструктуры и содержания точечных дефектов, моделированию каналов нейтрализации источников пучков быстрых нейтралов, дается обзор плазменных процессов в технологии МЭМС. Для специалистов в области микро- и наноэлектроники.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
14
Петербургский журнал электроники / Российский научно-исследовательский институт "Электростандарт"; Российский научно-исследовательский институт "Электростандарт". — 1993-. — СПб.: Электронстандарт, 1993-.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
15
Amorphous and polycrystalline thin-films silicon science and technology-2011 (April 25-29, 2011 ; San Francisco, California): Symposium Proceedings / Materials Research Society; eds.: B. Yan [et al.]. — Cambridge; New York; Melbourne; Warrendale: Cambridge University Press: MRS, 2012. — XVI,466 p.: ill.; 23 cm. — (Materials Research Society. Symposium Proceedings). — Bibliogr. at the end of the art. — ISBN 978-1-60511-298-5: 672.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
16
Нанотехнологии в электронике : сборник / под ред. Ю. А. Чаплыгина. — М.; : Техносфера , Б.г.
Вып. 2 :. — , 2013. — 686 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-353-0: 975.00 р.
Настоящее издание - второй выпуск книги «Нанотехнологии в электронике», вышедшей несколько лет назад. Каждую из частей книги представляет группа авторов, активно развивающих данное направление в Национальном исследовательском университете «МИЭТ». Коллектив авторов старался осуществить частичную преемственность материала, содержащегося в первом выпуске, однако структура книги существенно изменилась: группировка статей по условным разделам (теоретико-экспериментальные работы, методы исследований, технологии, приборы и устройства) представляется более правильной с точки зрения понимания общего направления работ в МИЭТ. Каждая из работ представляет собой законченный научный труд обзорного или обобщающего характера, либо является частью оригинальных исследований, полученных в последние 3-5 лет. Книга представляет интерес для специалистов, аспирантов и студентов, работающих в области нанотехнологии и смежных областях.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
17
Альфорд, Терри Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок: переводное издание / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер ; пер. с англ. А. Н. Образцова, М. А. Долганова ; науч. ред. А. Н. Образцов; МГУ им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям. — М.: Научный Мир, 2012. — 392 с.: ил. — (Фундаментальные основы нанотехнологий). — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-91522-225-9: 588.37 р.
Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к составу и структуре твердых тел на нанометровом масштабе. Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
18
Российская конференция по электронной микроскопии.
XVIII Российская конференция по электронной микроскопии: Тезисы докладов. — Черноголовка: Богородский печатник, 2000. — 338 с.: ил. — Авт. указ.: с. 331-338. — ISBN 5-89589-020-2: 76.80 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
19
Российская конференция по электронной микроскопии.
XVII Российская конференция по электронной микроскопии: Тезисы докладов. — Черноголовка: Богородский печатник, 1998. — 326 с.: ил. — Авт. указ.: с. 319-325. — ISBN 5-89589-004-0: 25.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
20
Советско-японский симпозиум по физико-химическим основам металлургических процессов.
Взаимодействие газов с металлами: Труды III советско-японского симпозиума. — М.: Наука, 1973. — [223] с.: граф. — Библиогр. в конце ст. — 1.27 р.
В сборнике представлены заслушанные на III советско-японском симпозиуме доклады о результатах новых исследований: растворимости газов в жидких шлаковых и металлургических расплавах (водорода, азота, кислорода и др.); кинетики взаимодействия газов с расплавами на основе железа, никеля. хрома; закономерностей плазменной плавки, процессов раскисления и удаления неметаллических включений; закономерностей металлургических процессов в вакууме и др. Издание рассчитано на физико-химиков, металлургов, металловедов - исследователей и практиков, студентов металлургических вузов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи