Книга состоит из лекций, прочитанных на Международном симпозиуме (Москва, 1968 г.) крупными зарубежными и советскими специалистами. Предметом этих лекций были электронные явления в адсорбции и катализе на полупроводниковой технике, а с другой, - в ряде областей химической промышленности. Детально рассмотрены современные исследования и достижения в области теории хемосорбции и катализа, влияние примесей и внешних факторов на поверхностные свойства полупроводников. Книга рассчитана на широкий круг физиков и химиков, работающих в области исследования и применений полупроводников и катализаторов.

За последние годы метод спектрофотометрии нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) получил широкое распространение в практике научных исследований. В книге рассмотрены преимущества метода НПВО по сравнению с классическими методами пропускания и обычного отражения. Обсуждены возможности метода применительно к решению большого круга задач в области физики, химии, в различных областях техники, в биологии и т. д. Приводятся примеры как уже осуществленных, так и возможных приложений метода к изучению структуры поверхности массивных тел и тонких пленок, и в частности поверхностных свойств полупроводников. Рассмотрены приложения метода в области изучения полимеров, повеерхностных соединений, химических реакций, адгезии, адсорбции и т. д. Книга представляет большой интерес для специалистов-спектроскопистов, работающих в различных областях науки и техники, физиков, биологов.