| 231 |
|
Приборы и техника эксперимента [Текст] = Instruments and Experimental Techniques / Рос. акад. наук, Отд-ние физ. наук РАН. — 1956-. — М.: Наука, 1956-. — ISSN 0032-8162. |
| 232 |
|
Техническая электродинамика: учеб. пособие для вузов связи / Ю. В. Пименов, В. И. Вольман, А. Д. Муравцов ; под ред. Ю. В. Пименова. — М.: Радио и связь, 2000. — 536 с.: ил. — Библиогр.: с. 526-529. — ISBN 5-256-01287-8: 90.00 р.
|
| 233 |
|
Датчики измерительных систем : в 2-х кн. / Ж. Аш [и др.] ; пер. с фр. под ред. А. С. Обухова. — М.; : Мир. — 5-03-001249-4.
Т. 1 :. — , 1992. — 480 с.: ил. — Библиогр. в конце разд. — ISBN 5-03-001641-4: 115.00 р.
|
| 234 |
|
Датчики измерительных систем : в 2-х кн. / Ж. Аш [и др.] ; пер. с фр. под ред. А. С. Обухова. — М.; : Мир. — 5-03-001249-4.
Т. 2 :. — , 1992. — 424 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — Предм.-имен. указ.: с. 412-417. — ISBN 5-03-001642-2: 330.62 р.
|
| 235 |
|
Синтез, свойства и применение диэлектриков с высокой диэлектрической проницаемостью в кремниевых приборах = Synthesis, properties and applications of dielectrics with high dielectric constant in silicon based devices: монография / В. А. Гриценко [и др.] ; отв. ред. : В. А. Гриценко, А. Л. Асеев; Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников им. А. В. Ржанова [и др.]. — Новосибирск: Издательство СО РАН, 2011. — 156 с.: ил. — (Интеграционные проекты СО РАН / Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние). — Авт. указаны на обороте тит. л. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-7692-1183-6: 5.00 р.
Монография посвящена синтезу, атомной, электронной структуре, механизмам переноса заряда и применению диэлектриков с высокой диэлектрической проницаемостью в кремниевых приборах флэш-памяти. Рассматриваются наиболее важные и перспективные диэлектрики Al2O3, HfO2, Ta2O5, ZrO2, TiO2, твердые растворы (HfO2)x(Al2O3)1-x. Анализируется также электронная структура трех традиционных ключевых диэлектриков в кремниевых приборах : оксида SiO2, оксинитрида SiO2Ny, и нитрида Si3N4 кремния. Книга адресуется студентам, аспирантам, инженерам и научным сотрудникам, занимающимся физикой твердого тела и микроэлектроникой.
|
| 236 |
|
Amorphous and polycrystalline thin-films silicon science and technology-2011 (April 25-29, 2011 ; San Francisco, California): Symposium Proceedings / Materials Research Society; eds.: B. Yan [et al.]. — Cambridge; New York; Melbourne; Warrendale: Cambridge University Press: MRS, 2012. — XVI,466 p.: ill.; 23 cm. — (Materials Research Society. Symposium Proceedings). — Bibliogr. at the end of the art. — ISBN 978-1-60511-298-5: 672.00 р. |
| 237 |
|
Материаловедение полупроводников и металловедение: учеб. пособие для вузов / С. С. Горелик, М. Я. Дашевский. — М.: Металлургия, 1973. — 500 с.: ил. — Библиогр.: с. 495-500. — 3.21 р.
|
| 238 |
|
Немецко-русский словарь по вычислительной технике: около 20 000 терминов / В. А. Шаров, Л. М. Новичкова ; под ред. А. И. Шишмарева. — М.: Русский язык, 1976. — 400 с. — 1.76 р.
|
| 239 |
|
Введение в контурный анализ и его приложение к обработке изображений и сигналов: монография / Я. А. Фурман [и др.] ; под ред. Я. А. Фурмана. — М.: ФИЗМАТЛИТ, 2002. — 592 с. — Авт. указаны на обороте тит. л. — Библиогр.: с. 579-588. — ISBN 5-9221-0255-9: 266.00 р. |
| 240 |
|
Антенны : первое полн. изд. в России пер. с нем. / К. Ротхаммель, А. Кришке. — Минск; : Наш город , Б.г.
Т. 2 :. — 11-е изд., перераб. и доп. — , 2001. — 416 с.: ил. — Парал. тит. лист нем. — ISBN 9-8564-8716-1: 100.00 р.
|