| 31 |
|
Исследование термостимулированной экзоэлектронной эмиссии и возможностей экзоэмиссионной диагностики материалов электронной техники: автореф. дис. на соиск. ученой степ. д-ра техн. наук / В. И. Крюк; Уральский политехнический институт им. С.М. Кирова (Екатеринбург), Уральский лесотехнический институт им. Ленинского комсомола. — М., 1979. — 43 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 39-43.
|
| 32 |
|
Аналитическая вторично-электронная эмиссиометрия / Ю. Я. Томашпольский. — М.: Научный мир, 2006. — 109 с.: ил.; 22 см. — Библиогр.: с. 98-109. — ISBN 5-89176-404-0: 208.00 р.
На основе установленных в последние десятилетия новых закономерностей выхода из вещества эмиссии вторичных электронов и модельных представлений, связывающих температурные, композиционные, токовые и полевые зависимости интенсивности эмиссии с химическим и фазовым составом, атомной и электронной структурой, фазовыми переходами и другими фундаментальными характеристиками, развит комплекс новых методов - аналитическая вторично-электронная эмиссиометрия. В монографии впервые сделана попытка обобщить многочисленные, но разрозненные теоретические и экспериментальные результаты, характеризующие аналитические достижения вторично-электронной эмиссиометрии. Книга предназначена для широкого круга аналитиков, работающих над решением проблем локальной, высокочувствительной, неразрушающей качественной и количественной характеризации вещества, а также для специалистов в химии, физике, материаловедении, геологии, металлургии, микро- и наноэлектронике. Книга может быть полезна также для студентов родственных специальностей и частично - для студентов колледжей радиотехнического направления.
|
| 33 |
|
Исследование высокочастотных генераторов на основе сильноточных импульсно-периодических ускорителей электронов: дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / В. В. Ростов ; науч. рук. Г. А. Месяц; Институт сильноточной электроники СО АН СССР (Томск). — Томск, 1985. — 174 с. — На правах рукописи. — Для служебного пользования. — Библиогр.: с. 157-174.
|
| 34 |
|
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий: методы и применение / Р. Андерхальт [и др.] ; под ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга ; пер. с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина, под ред. Т. П. Каминской. — М.: Бином. Лаборатория знаний, 2012. — 582 с. ; [8] л. ил.: ил.; 24 см. — Авт. указаны на 5-й с. — Библиогр. в конце гл. — Предм. указ.: с. 574-582. — ISBN 978-5-9963-1110-1: 1320.00 р.
Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.
|
| 35 |
|
Температура фазовых превращений в контакте разнородных металлических пленок: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / Р. А. Мусуков ; науч. рук. Е. М. Панченко, оппоненты: Ю. М. Гуфан, А. Н. Павлов; Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х. М. Бербекова (Нальчик), Северо-Осетинский государственный университет (Владикавказ), Южный федеральный университет (Ростов н/Д). — Ростов н/Д, 2011. — 21 с.: граф. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 19-21.
|
| 36 |
|
Взрывная электронная эмиссия в СВЧ полях: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / А. А. Контонистов ; науч. рук.: Г. Н. Фурсей, Л. А. Широчин, офиц. оппоненты: А. Ф. Александров, В. И. Энгелько; Всесоюзный научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (М.), Ленинградский электротехнический институт связи им. М. А. Бонч-Бруевича, Ленинградский политехнический институт им. М. И. Калинина (Л.). — М., 1986. — 17 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 15-17.
|
| 37 |
|
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения: переводное издание / Д. Спенс ; пер с англ. под ред. В. Н. Рожанского. — М.: Наука, 1986. — 320 с.: ил. — Библиогр.: с. 313-320. — 3.70 р.
|
| 38 |
|
Условия существования и эмиссионные свойства положительно заряженных структур в тлеющих разрядах с осциллирующими электронами: автореферат дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.13 / С. П. Никулин ; офиц. оппоненты: Е. А. Литвинов, А. П. Яловец, А. А. Гончаров; Институт электрофизики УрО РАН (Екатеринбург), Институт сильноточной электроники СО РАН (Томск). — Екатеринбург, 1999. — 25 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 22-25.
|
| 39 |
|
Микроконтроллеры PIC16X7XX: Семейство восьмиразрядных КМОП микроконтроллеров с аналого-цифровым преобразователем / В. А. Ульрих ; под ред. С. Л. Корякина-Черняка. — 2-е изд., перераб. и доп. — СПб.: Наука и техника, 2002. — 320 с.: ил. — (Электронные компоненты). — ISBN 5-94387-060-1: 93.00 р.
|
| 40 |
|
XVII Российская конференция по электронной микроскопии: Тезисы докладов. — Черноголовка: Богородский печатник, 1998. — 326 с.: ил. — Авт. указ.: с. 319-325. — ISBN 5-89589-004-0: 25.00 р.
|