Электронное учебное пособие создано в рамках Инновационной образовательной программы Томского государственного университета. В пособии представлен обширный материал, отражающий историю информатики и вычислительной техники, начиная с доэлектронного этапа до наших дней. В пособие включены тестовые задания и приложение, содержащее 6 видеолекций. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по широкому спектру компьютерных специальностей. Может быть использовано для общеобразовательных курсов по информатике, читаемых на всех естественнонаучных и гуманитарных факультетах вузов, в курсах по информатике для магистров и аспирантов, а также в средних общеобразовательных школах и учреждениях среднего профессионального образования.

В книге представлены некоторые результаты 25-летней деятельности автора в области электрокаплеструйных технологий (ЭКСТ). Теоретическая часть включает результаты исследований основных физических процессов ЭКСТ, методы расчета и проектирования эмиттеров капель, индукторов, отклоняюще-управляющих узлов и систем, блоков гидроавтоматики, а также основы разработки и синтеза ЭКС-композиций. В главе 7 и в приложении приведен опыт широкого внедрения ЭКСТ и маркировочных принтеров ЭКСТ во многих отраслях народного хозяйства как в России, так и за рубежом. Книга предназначена для инженерно-технических и научных работников, специализирующихся в области автоматики, вычислительной техники и автоматизации технологических процессов, а также будет полезной аспирантам и студентам соответствующих специальностей.

Данный выпуск журнала содержит статьи, посвященные проблемам развития ядерной энергетики России и научно-технологических работ в области материаловедения и новых материалов для ядреной техники. Представлены результаты исследований по физическому материаловедению, радиационной повреждаемости, активации и трансмутации материалов, физике радиационных явлений, механизмам формирования исходной и радиационной микроструктуры, структурно-фазовых состояний, теории, моделированию и экспериментальным исследованиям структуры и свойств материалов.