| 91 |
|
Микроэлектроника и полупроводниковые приборы : сб. статей / под общ. ред. А. А. Васенкова, Я. А. Федотова. — М.; : Радио и связь.
:. — М.: Радио и связь, 1984. — 232 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 1.00.
|
| 92 |
|
Микроэлектроника и полупроводниковые приборы : сб. статей / под общ. ред. А. А. Васенкова, Я. А. Федотова. — М.; : Радио и связь.
:. — М.: Радио и связь, 1989. — 192 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — ISBN 5-256-00234-1: 1.00.
|
| 93 |
|
Нелинейные свойства ферритов в полях с. в. ч. / пер. с англ. В. Я. Антоньянца [и др.], под ред. А. Л. Микаэляна. — М.: Издательство иностранной литературы, 1963. — 256 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 0.90. |
| 94 |
|
Amorphous and polycrystalline thin-films silicon science and technology-2011: symp. held Apr. 25-29, 2011, San Francisco, California, U.S.A. / eds.: B. Yan [et al.]. — Cambridge; New York; Melbourne; Warrendale: Cambridge univ. press: MRS, 2012. — XVI,466 p.: ill.; 23 cm. — (Materials research society symposia proceedings / Materials research society (Warrendale)). — Bibliogr. at the end of the art. — Схема доступа: http://www.spsl.nsc.ru/Fulltext/CAT/13-09-17\amorphous.html. — ISBN 978-1-60511-298-5: 672.00. |
| 95 |
|
Proceedings of ISMTII-2009 : keynote papers, 29 June - 2 July, 2009, Saint-Petersburg. — Saint-Petersburg; : D.S. Rozhdestvensky optical soc.
:. — Saint-Petersburg: D.S. Rozhdestvensky optical soc., 2009. — LXXV,345 p.: ill. — Bibliogr. at the end of the art. — . — Sessions: 1. General problems of Measurement; 2. Micro-Nano-Measurements and Metrology; 3. Optical and X-Ray Tomography and Interferometry. — 310.00.
|