Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 46 - 50 из 3807 для dc.subject any/relevant "аналоговая элек ... ( 0.276 сек.)

46
Граф, Рудольф Ф.
Энциклопедия электронных схем : в 6-ти кн. / Р. Ф. Граф, В. Шиитс ; пер. с англ. Э. А. Брядинского ; под ред. А. Э. Брядинского. — М.; : ДМК. — (В помощь радиолюбителю ).
:. — М.: ДМК, 2003. — 304 с.: ил. — Парал. тит. лист англ. — ISBN 5-94074-139-8: 139.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
47
Граф, Рудольф Ф.
Энциклопедия электронных схем / Р. Ф. Граф, В. Шиитс ; пер. с англ. Э. А. Бряндинского ; под ред. А. Э. Бряндинского. — М.; : ДМК. — (В помощь радиолюбителю ). — 0-07-016116-4.
:. — М.: ДМК, 2000. — 304 с.: ил. — Парал. тит. лист англ. — ISBN 5-89818-0-010-2: 96.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
48
Граф, Рудольф Ф.
Энциклопедия электронных схем / Р. Ф. Граф, В. Шиитс ; пер. с англ. Э. А. Бряндинского ; под ред. А. Э. Бряндинского. — М.; : ДМК. — (В помощь радиолюбителю ). — 0-07-016116-4.
:. — М.: ДМК, 2000. — 416 с.: ил. — Парал. тит. лист англ. — ISBN 5-93700-012-9: 96.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
49
Разевиг, Всеволод Данилович.
Система схемотехнического моделирования Micro-Cap V / В. Д. Разевиг. — М.: СОЛОН, 1997. — 274 с.: ил. — ISBN 5-85954-069-8: 19.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
50
Бенда, Дитмар.
Поиск неисправностей в электрических схемах: пер. с нем. / Д. Бенда. — СПб.: БХВ-Петербург, 2010. — 245 с.: ил.; 24 см. — (Электроника). — Предм. указ.: с. 241-245. — ISBN 978-5-9775-0359-4: 166.00.
В книге обобщен многолетний опыт практической работы и приведены проверенные методики поиска неисправностей для различных электронных устройств. На большом количестве примеров аналоговых и цифровых блоков, программируемых контроллеров и компьютерной техники показан системный подход и специфика поиска неисправностей в электрических схемах. Рассмотрены основные правила проведения технического обслуживания, фазы поиска неисправностей, диагностика устройств, тестирование электронных компонентов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи