Приведены справочные данные, необходимые для получения и измерения рентгенограмм поликристаллов и монокристаллов различных веществ. Приведены описания и технические данные для серийно выпускаемой рентгеновской аппаратуры, описаны свойства детекторов излучения, фильтров и монохроматоров. Даны таблицы и графики для получения и измерения рентгенограмм неподвижных и движущихся монокристаллов. Для получения рентгенограмм поликристаллов приведены условия съемки и установки камер, данные для определения углов скольжения. Для определения межплоскостных расстояний построены графики, позволяющие проводить расчеты как по результатам измерений углов скольжения, так и непосредственно по диаграммной ленте дифрактометра. Справочное руководство предназначено для работников заводских лабораторий и научно-исследовательских институтов, изучающих структур и свойства материалов, а также студентов соответствующих специальностей.

Приведены справочные данные и методические указания для индицирования ретгенограмм монокристаллов и поликристаллов различных веществ. Описаны методы индицирования лауэграмм прямой и обратной съемки, рентгенограмм вращения и других видов рентгенограмм монокристаллов. Приведены диаграммы для индицирования рентгенограмм кристаллов с различной структурой при различных ориентировках, диаграммы могут служить как для индицирования, так и для определения ориентировки кристаллов, Описаны аналитические и графические методы индицирования рентгенограмм поликристаллов, а также методы переменного масштаба и гомологии. Приведено большое число таблиц и графиков для индицирования рентгенограмм поликристаллов веществ с кубической, тетрагональной, гексагональной, ромбоэдирческой, моноклинной и другими структурами.