| 21 |
|
Справочник по высшей математике / М. Я. Выгодский. — М.: Астрель, 2003. — 991 с.: ил. — Предм.-имен. указ. с. 409-416. — ISBN 5-17-012238-1: 180.84.
Справочник включает весь материал, входящий в программу основного курса математики высших учебных заведений. Детальная рубрикация и подробный предметный указатель позволяют быстро получать необходимую информацию. Книга окажет неоценимую помощь студентам, инженерам и научным работникам.
|
| 22 |
|
Геометрия = L'ENSEIGNEMENT DE LA GEOMETRIE / Г. Шоке ; пер. с франц. Н. Н. Родман, под ред. И. М. Яглома. — М.: Мир, 1970. — 239. [1] с.: ил. — (Современная математика). — Предм. указ.: с. 236-237. — Библиогр.: с. 221-224. — 0.70.
|
| 23 |
|
Теория операторов и некорректные задачи / М. М. Лаврентьев, Л. Я. Савельев; Федер. целевая программа "Гос. поддержка интеграции высш. образования и фундам. науки на 1997-2000 гг.". — Новосибирск: ИМ СО РАН, 1999. — 702 с.: ил. — Предм. указ.: с. 695-701. — Библиогр.: с. 687-694. — ISBN 5-86134-077-3: 10.00.
|
| 24 |
|
Современные методы теории поля / Г. А. Сарданашвили. — М.; : УРСС.
: Геометрия и классические поля. — М.: УРСС, 1996. — 224 с.: ил. — Предм. указ.: с. 216-222. — Библиогр.: с. 214-215. — ISBN 5-88417-087-4: 78.40.
|
| 25 |
|
Многомерные пространства / Б. А. Розенфельд. — М.: Наука, 1966. — 647, [1] с.: ил., табл. — Библиогр.: с. 637-647. — 1.96.
|
| 26 |
|
Современные методы теории поля / Г. А. Сарданашвили. — М.; : УРСС.
: Геометрия и квантовые поля. — М.: УРСС, 2000. — 160 с.: ил. — Предм. указ.: с. 154-157. — Библиогр.: с. 149-153. — ISBN 5-88417-221-4: 78.40.
|
| 27 |
|
Физические основы микроэлектроники: учеб. пособие для вузов по спец. "Проектирование и технология радиоэлектронных средств" направления "Проектирование и технология электрон. средств" / В. И. Марголин, В. А. Жабрев, В. А. Тупик. — М.: Академия, 2008. — 398, [1] с.: ил.; 22 см. — (Высшее профессиональное образование). — Библиогр.: с. 395. — ISBN 978-5-7695-4227-5: 543.00.
Изложены основы квантовой механики, фрактальной геометрии и фрактальной физики, нелинейной динамики. Рассмотрены физические основы основных технологических процессов микро- и наноэлектроники : получение тонкопленочных структур, создание и перенос литографического изображения, методы модификации поверхностных и объемных структур, основы и методы контроля и метрологии. Для студентов высших учебных заведений.
|
| 28 |
|
Справочник по математике для инженеров и учащихся втузов: пер. с нем. / И. Н. Бронштейн, К. А. Семендяев. — 13-е изд., испр. — М.: Наука, 1986. — 544 с.: ил. — Предм. указ.: с. 534-544. — Библиогр.: с. 532-533. — 4.10.
|
| 29 |
|
Определение геометрического строения свободных молекул / Л. В. Вилков, В. С. Мастрюков, Н. И. Садова. — Л.: Химия, 1978. — 223, [1] с.: ил., табл. — (Физические методы исследования органических соединений). — Библиогр.: с. 212-221. — 2.60.
|
| 30 |
|
Справочник по математике для инженеров и учащихся втузов: справочник / И. Н. Бронштейн, К. А. Семендяев. — 15-е изд. — М.: Наука, ФИЗМАТЛИТ, 1998. — 608 с.: ил. — Алфав. указ.: с. 589-608. — Библиогр.: с. 585-588. — ISBN 5-02-015115-7: 16.80.
|