XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, 30 мая-2 июня 2011 г., Черноголовка: тезисы докладов / Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (XVII ; 30 мая - 2 июня 2011 г. ; Черноголовка) , Научный совет РАН по электронной микроскопии, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН (Черноголовка), Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН (М.), Российский фонд фундаментальных исследований (М.), Jeol, ОПТЭК, ООО "Системы для микроскопии и анализа", Oxford Instruments, Bruker, НТ-МДТ, SPECS, Евротек Дженерал, Энерголаб. — Черноголовка: ИПТМ, 2011. — 279 с.: ил.; 21 см. + 1o=эл. опт. диск (CD-ROM). — Библиогр. в конце докл. — ISBN 978-5-89589-054-7: 90.00.

Труды симпозиума = Low dimensional Systems / Физика низкоразмерных систем и поверхностей (2 ; 3-8 сентября 2010 г. ; Ростов н/Д). — Ростов н/Д: СКНЦ ВШ ЮФУ АПСН, 2010. — 336 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — ISBN 978-5-87872-560-6: 155.00.

Основы рентгеноспектрального флуоресцентного анализа / Н. Ф. Лосев, А. Н. Смагунова. — М.: Химия, 1982. — 206, [2] с.: ил., табл. — (Методы аналитической химии). — Библиогр.: с. 202-207. — 2.10.

Дробный анализ. Качественные реакции и анализ неорганических соединений дробным методом / Н. А. Тананаев. — М.; Л.: Госхимиздат, 1950. — 248 с. — Библиогр.: с. 238-239. — 1.60.

Основы спектрального анализа / А. Н. Зайдель. — М.: Наука, 1965. — 322 с.: ил. — (Физика и техника спектрального анализа (библиотека инженера)). — Предм. указ.: с. 320-322. — Библиогр.: с. 315-319. — 1.52.