Книга посвящена изучению состояния твердого тела в условиях сильного сжатия, установлению влияния высокого давления на кристаллическую структуру элементов и широкого класса соединений. Описана аппаратура и методика рентгеноструктурного анализа, применяемая в исследованиях твердого тела при высоких давлениях в широком интервале температур. Издание рассчитано на широкий круг исследователей в области физики твердого тела, термодинамики и геофизики.

В пособии обсуждаются проблемы рентгеноструктурного анализа нанокристаллических материалов, излагаются современные рентгенографические методики исследования наноразмерных и наноструктурированных систем. Рассматриваются особенности рентгеновской дифракции для ID и 3D когерентных наноструктур. Пособие предназначено для магистрантов ФФ НГУ, обучающихся на кафедре физических методов исследования твердого тела, а также студентов других кафедр и факультетов, занимающихся исследованием структуры нанокристаллических материалов. Предполагается, что обучающиеся знакомы с началами кристаллографии и теории рассеяния рентгеновских лучей.