Книга содержит справочные таблицы физических величин, используемых при рентгеноспектральном анализе и работах по рентгеновской спектроскопии. Даны коэффициенты ослабления в интервале длин волн 0,1-250 А для основных линий всех элементов во всех поглощающих элементах, длины волн и энергии фотонов всех линий рентгеновского спектра для всех элементов, энергии, ширины и выходы флуоресценции уровней, сечения рассеяния, длины волн всех линий рентгеновского спектра в порядке возрастания значений и соответствующие им углы дифракции и их синусы для многих кристаллов-анализаторов, функции интенсивности для энергий электронов от 10 до 50 кэВ и углов скольжения их 60 и 90, а также ряд других таблиц.

Книга посвящена рентгеновской спектроскопии, которая приобретает все более широкое практическое применение в науке и технике. Книга может служить практическим руководством при выборе и освоении аппаратуры, при проведении рентгено-спектральных анализов и эксперименатльных исследований тонкой структуры рентгеновских спектров испускания и поглощения, а также при обработке полученных результатов. Особое внимание уделено теории и практике рентгено-спектрального качественного и количественного анализа материалов сложного состава (сплавов, руд и минералов).Книга рассчитана на научных работников, инженеров, техников и лаборантов, работающих в области различных рентгено-спектральных исследований и других видов рентгеновского анализа вещества, а также на аспирантов и студентов старших курсов вузов соответствующих специальностей.

В сборник включены статьи, посвященные закономерностям формирования структуры композиционных углеродных материалов при высокотемпературной обработке и иименению их физических свойств (электрических, магнитных, термоэлектрических и т. по.), а также результаты исследования углеродных материалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. В сборник включены статьи, описывающие влияние различных воздействий на физические свойства графитов разных марок. дано теоретико-групповое описание структуры графита.

В 1965 г. в Амстердаме вышла книга "Alpha-, beta- and gamma-ray spectroscopy" под редакцией К. Зигбана в двух томах на английском языке. Книга появилась в результате переработки и дополнения первого издания, вышедшего в 1955 г. под названием "Beta- and gamma-spectroscopy" и переведенного на русский язык в 1959 г.В предлагаемый вниманию читателей выпуск вошли первые 8 глав из первого тома второго амстердамского издания книги. В первых двух главах рассмотрены вопросы взаимодействия заряженных частиц (в основном, альфа-частиц и электронов) и гамма-излучения с веществом. В следующих четырех главах (гл. 3-6) описаны различного рода спектрометры: магнитные, кристалл-дифракционные, сцинтилляционные и, наконец, полупроводниковые, с применением и усовершенствованием которых за прошедние несколько лет связан значительный програсс в области ядерной спектроскопии. В седьмой главе излагаются некоторые методические вопросы, относящиеся главным образом к технике изготовления образцов и окошек, к применению многоканальных анализаторов и к абсолютным измерениям активности источников излучения. Наконец, последняя (восьмая) глава этого выпуска посвящена методам исследования схем распада, в том числе и машинным методам расшифровки аппаратурных спектров.Первый выпуск содержит два приложения, в которых читатель найдет справочный материал по коэффициентам ослабления гамма-излучения в широком диапазоне энергий фотонов и атомных номеров поглощающих веществ, по энергии связи электронов в атомах, а также перевод значений Bp в соответствующие значения энергий электронов.Книга рассчитана в основном на физиков-экспериментаторов - как работающих в области атомного ядра, так и использующих ядерные методы исследования в других областях науки и техники.

В книге изложена общая теория измерительно-регистрирующих систем; приборы и методы исследований быстропротекающих процессов средствами радиоэлектроники и оптики; основные методы экспериментальной физики — фурье-оптика, спектроскопия, интерферометрия и голография, зондирование электромагнитными волнами, рентгеновские и корпускулярные методы исследования; методы обработки и интерпретации результатов измерений. Физические основы методов исследования излагаются в объеме достаточном для того, чтобы последующее изучение специальной литературы не вызывало затруднений. Что касается измерительной аппаратуры, здесь прежде всего рассматриваются принципы ее работы, поскольку именно это наиболее важно, при планировании и проведении экспериментов или при разработке приборов. В книге широко используются методы теории информации, так как именно с их помощью возможно наиболее адекватно описывать и анализировать свойства измерительно-регистрирующих систем, прогнозировать качество выходных сигналов и находить критерии регуляризации при решении обратных задач. Книга адресована студентам и аспирантам физических и физико-технических специальностей, научным сотрудникам, планирующим и проводящим экспериментальные исследования, а также инженерам, занятым разработкой, тестированием и сертификацией измерительных приборов и измерительно-регистрирующих систем.