Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 1 - 50 из 9512 для dc.subject any/relevant "МИКРОСКОПИЯ ТЕЗ ... ( 0.510 сек.)

1
Российская конференция по электронной микроскопии.
XXIVI Российская конференция по электронной микроскопии [Электронный ресурс] : материалы временных коллективов / Российская конференция по электронной микроскопии (Черноголовка). — Электрон. дан. — Черноголовка, 2012. — Загл. с диска. — 150.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
2
Российская конференция по электронной микроскопии.
XVIII Российская конференция по электронной микроскопии: Тезисы докладов / Рос. АН, Науч. совет по электронной микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов, Ин-т кристаллографии. — Черноголовка: Богородский печатник, 2000. — 338 с.: ил. — Авт. указ.: с. 331-338. — ISBN 5-89589-020-2: 76.80.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
3
Российская конференция по электронной микроскопии.
XVII Российская конференция по электронной микроскопии: Тезисы докладов / Рос. АН, Науч. совет по электронной микроскопии, Ин-т кристаллографии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов. — Черноголовка: Богородский печатник, 1998. — 326 с.: ил. — Авт. указ.: с. 319-325. — ISBN 5-89589-004-0: 25.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
4
Мурзин, Иван Германович.
Модификация поверхности металлов методом ионно-лучевого смешивания: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / И. Г. Мурзин ; науч. рук. Л. П. Чупятова, офиц. оппоненты: В. Н. Мордкович, Г. В. Гордеева; Московский институт стали и сплавов (М.), ЦНИИЧЕРМЕТ. — М., 1992. — 25 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 24-25.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
5
Пантелеев, В. Г.
Компьютерная микроскопия / В. Г. Пантелеев, В. Г. Егорова, Е. Н. Клыкова. — М.: Техносфера, 2005. — 304 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр.: с. 302-303. — ISBN 5-94836-025-3: 210.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
6
Квеглис, Людмила Иосифовна.
Диссипативные структуры в тонких нанокристаллических пленках: монография / Л. И. Квеглис, В. Б. Кашкин ; отв. ред. В. Ф. Шабанов; Сибирский федеральный университет (Красноярск). — Красноярск: Сибирский федеральный университет, 2011. — 204 с.: ил. — Библиогр.: с. 185-200. — ISBN 978-5-7638-2101-7: 270.00.
Обобщен опыт исследований физических эффектов в диссипативных структурах методами обработки изображений. в том числе с применением преобразования Фурье. Исследованы диссипативные структуры в аморфных и нанокристаллических пленках. Рассмотрено моделирование процессов взрывной кристаллизации и формирующихся атомных структур. Предназначена для специалистов в области материаловедения и физики конденсированного состояния. Может быть полезна аспирантам и студентам, интересующимся электронной микроскопией.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
7
Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел.
XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, 30 мая-2 июня 2011 г., Черноголовка: тезисы докладов / Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (XVII ; 30 мая - 2 июня 2011 г. ; Черноголовка) , Научный совет РАН по электронной микроскопии, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН (Черноголовка), Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН (М.), Российский фонд фундаментальных исследований (М.), Jeol, ОПТЭК, ООО "Системы для микроскопии и анализа", Oxford Instruments, Bruker, НТ-МДТ, SPECS, Евротек Дженерал, Энерголаб. — Черноголовка: ИПТМ, 2011. — 279 с.: ил.; 21 см. + 1o=эл. опт. диск (CD-ROM). — Библиогр. в конце докл. — ISBN 978-5-89589-054-7: 90.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
8
Спенс, Джон.
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения / Д. Спенс ; пер с англ. под ред. В. Н. Рожанского. — М.: Наука, 1986. — 320 с.: ил. — Библиогр.: с. 313-320. — 3.70.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
9
Физическая природа формирования и эволюции градиентных структурно-фазовых состояний в сталях и сплавах / В. В. Коваленко [и др.] ; рец.: В. И. Данилов, Е. А. Будовских; Сибирский государственный индустриальный университет (Новокузнецк), Томский государственный архитектурно-строительный университет (Томск), Межгосударственный координационный совет СНГ по физике прочности и пластичности материалов. — Новокузнецк: ООО "Полиграфист", 2009. — 557 с.: ил. — (Фундаментальные проблемы современного материаловедения). — Библиогр.: с. 526-556. — ISBN 978-5-8441-0304-9: 214.00.
Приведены результаты экспериментальных исследований формирования и эволюции градиентных структурно-фазовых состояний и дефектной субструктуры сталей и сплавов, подвергнутых ударному нагружению, прокатке, сварке. высокотемпературной цементации, мало- и многоцикловой усталости с обработкой токовыми импульсами. электронно-лучевой обработке, закалке из расплава. Методами оптической, растровой и просвечивающей электронной микроскопии выполнен анализ зеренной и тонкой дефектной структуры и дислокационных субструктур при таких видах воздействия, получены количественные зависимости параметров градиентных структурно-фазовых состояний от расстояния до поверхности обработки. Обсуждены возможные механизмы и природа формирования таких состояний. Книга предназначена для научных и инженерно-технических работников научно-исследовательских институтов, заводских лабораторий, специализирующихся в областях физики конденсированного состояния, металловедения и термической обработки металлов и сплавов и может быть полезна преподавателям, аспирантам и студентам вузов соответствующих специальностей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
10
Синдо, Дайзуке.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванова. — М.: Техносфера, 2006. — 256 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-94836-064-4: 168.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
11
Ищенко, Анатолий Александрович.
Дифракция электронов : структура и динамика свободных молекул и конденсированного состояния вещества / А. А. Ищенко, Г. В. Гиричев, Ю. И. Тарасов. — М.: Физматлит, 2013. — 614 с.: ил.; 25 см. — Предм. указ.: с. 611-614. — Библиогр. в конце гл. — ISBN 978-5-9221-1447-9: 990.00.
Представлены современные достижения в теории и эксперименте метода дифракции электронов в 4D пространственно-временном континууме. Даны основы классической газовой электронографии, в том числе высокотемпературной, на основе понятия поверхности потенциальной энергии. Введение развертки во времени в дифракционные методы с использованием пикосекундных и фемтосекундных электронных диагностирующих импульсов, синхронизированных с импульсами возбуждающего лазерного возбуждения, позволило разработать методы сверхбыстрой электронной кристаллографии, дифракции рентгеновских лучей с временным разрешением и динамической просвечивающей электронной микроскопии, томографии молекулярного состояния. Становится возможной визуализация переходных процессов при фотовозбуждении свободных молекул и биологических обьектов, анализ процессов на поверхности и в наноструктурах. Для широкого круга читателей, студентов, аспирантов, научных работников, интересующихся проблемами структуры и динамики наноматериалов, строением вещества.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
12
Нагорнов, Юрий Сергеевич.
Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии: учеб. пособие / Ю. С. Нагорнов, И. С. Ясников, М. Н. Тюрьков; Тольят. гос. ун-т. — Тольятти: ТГУ, 2012. — 58 с.: ил.; 20 см. — Библиогр.: с. 57-58. — ISBN 978-5-88504-099-0: 30.00.
В учебном пособии представлена современная научная информация о возможностях атомно-силовой и электронной сканирующей микроскопии. Приведены характерные особенности методик атомно-силовой микроскопии, которые позволяют получать дополнительную информацию о ее свойствах. В частности рассмотрены режим фазового контраста, метод Зонда Кельвина, метод латеральных сил. Рассмотрены принцип работы электронного сканирующего микроскопа и примеры реализации различных методик для исследования микроскопических объектов электролитического происхождения. В частности, продемонстрированы методические приемы получения изображений, позволяющие однозначно идентифицировать габитус микрокристаллов, а также способы получения изображений из внутренних поверхностей полостей микрокристаллов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
13
Физика твердого тела. Лабораторный практикум : учеб. пособие для вузов : в 2-х т. — М.; : Высшая школа. — 5-06-004023-2.
: Методы получения твердых тел и исследования их структуры / В. А. Гавва [и др.] ; под ред. А. Ф. Хохлова. — 2-е изд., исправ. — М.: Высшая школа, 2001. — 364 с.: ил. — ISBN 5-06-004021-6: 97.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
14
Справочник Шпрингера по нанотехнологиям : в 3-х томах / Московский государственный институт электронной техники (технический университет) (М.), Научно-производственный комплекс "Технологический центр" ; под ред. Б. Бхушана, пер. с англ. под общей ред. А. Н. Саурова.
:. — М.: Техносфера, 2010. — 832 с.: ил. — Изд. осуществлено при финансовой поддержке РФФИ по проекту № 09-08-07050-д. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-264-9: 1300.00.
Первое издание справочника по нанотехнологиям. выпущенное крупнейшим немецким издательством "Шпрингер" в 2004 году, заявило о себе как об основном источнике информации в области научных знаний о нанотехнологиях. Справочник объединяет сведения по технология, механике. материаловедению и надежности. Второе издание увеличилось с 6 до 8 частей, с 38 до 58 глав. Первая часть - введение в наноструктуры и технологии изготовления микро- и наноструктур. включая используемые при этом методы и материалы. Вторая часть справочника посвящена МЭМС/НЭМС и БиоМЭМС/БиоНЭМС приборам. Различные типы сканирующей зондовой микроскопии рассмотрены в третьей части. Четвертая часть посвящена обору нанотрибологии и наномеханики. Обзор смазок на пленках молекулярной толщины представлен в пятой части справочника. Шестая часть знакомит читателя с некоторыми применениями нанотехнологий в промышленном масштабе. седьмая сфокусирована на надежности микроприборов. И, наконец, последняя посвящена технологической конвергенции, которую несут с собой нанотехнологии, в ней также рассмотрены социальные, этические и политические последствия нанотехнолоий. Предметный указатель приведен в конце третьего тома. Книга подготовлена опытным редактором и написана командой из 150 известных международных экспертов. Она адресована инженерам-механикам и инженерам-электрикам. специалистам по материаловедению, медикам и химикам, которые работают в области нано-, или в областях, так или иначе связанных с этой новой важнейшей технологией.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
15
Горелик, Семен Самуилович.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ: учеб. пособие для вузов по направлениям 550500-Металлургия, 651300-Металлургия, 651800-Физ. материаловедение / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. — 4-е изд., перераб. и доп. — М.: МИСИС, 2002. — 360 с.: ил. — ISBN 5-87623-096-0: 110.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
16
Нанотехнологии в электронике : сборник / под ред. Ю. А. Чаплыгина. — М.; : Техносфера.
:. — М.: Техносфера, 2013. — 686 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-353-0: 975.00.
Настоящее издание - второй выпуск книги «Нанотехнологии в электронике», вышедшей несколько лет назад. Каждую из частей книги представляет группа авторов, активно развивающих данное направление в Национальном исследовательском университете «МИЭТ». Коллектив авторов старался осуществить частичную преемственность материала, содержащегося в первом выпуске, однако структура книги существенно изменилась: группировка статей по условным разделам (теоретико-экспериментальные работы, методы исследований, технологии, приборы и устройства) представляется более правильной с точки зрения понимания общего направления работ в МИЭТ. Каждая из работ представляет собой законченный научный труд обзорного или обобщающего характера, либо является частью оригинальных исследований, полученных в последние 3-5 лет. Книга представляет интерес для специалистов, аспирантов и студентов, работающих в области нанотехнологии и смежных областях.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
17
Введение в физику поверхности: переводное издание / К. Оура [и др.]. ; ред. В. И. Сергиенко; Дальневосточное отд-ние РАН, Ин-т автоматики и процессов управления. — М.: Наука, 2006. — 490 с.: ил. — Предм. указ.: с. 482-490. — Библиогр.: с. 464-481. — ISBN 5-02-034355-2: 212.00.
Книга посвящена физике поверхности. Она дает необходимую вводную информацию для исследователей, которые только начинают работать в данной области. Книга содержит все наиболее важные аспекты современной науки о поверхности от экспериментальной базы и основ кристаллографии до современных аналитических методов и их использования в изучении тонких пленок и наноструктур. Для специалистов в области физики поверхности, аспирантов, студентов старших курсов инженерных и физических специальностей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
18
Эгертон, Рэй.
Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию: научное издание / Р. Ф. Эгертон ; пер. с англ. С. А. Иванова. — М.: Техносфера, 2010. — 304 с.: цв.ил. — (Мир физики и техники). — Библиогр.: с. 297-300; Предм. указ.: с. 223-228. — ISBN 978-5-94836-254-0: 583.22.
Растровые и просвечивающие электронные микроскопы стали незаменимыми приборами для исследований в материаловедении, полупроводниковой промышленности, нанотехнологиях, а также в биологии и медицине. В данной монографии излагается введение в теорию и современную практику электронной микроскопии. Книга предназначена для студентов старших курсов, которые хотели бы углубить свои знания об основных физических принципах микроскопии, для молодых специалистов, которые пользуются электронными микроскопами, а также для преподавателей вузов и исследователей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
19
Практическая растровая электронная микроскопия / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; под ред. Дж. Гоулдстейна, Х. Яковица ; пер.с англ. под ред. В. И. Петрова. — М.: Мир, 1978. — 656 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — Имен. и предм. указ.: с. 643-650. — Библиогр.: с. 615-642. — 4.70.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
20
Валиев, Руслан Зуфарович.
Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии / Р. З. Валиев, А. Н. Вергазов, В. Ю. Герцман; АН СССР, Институт проблем сверхпластичности металлов. — М.: Наука, 1991. — 231 с.: ил. — Библиогр.: с. 221-225. — ISBN 5-02-000195-3: 2.70.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
21
Справочник Шпрингера по нанотехнологиям : в 3-х томах / Московский государственный институт электронной техники (технический университет) (М.), Научно-производственный комплекс "Технологический центр" ; под ред. Б. Бхушана, пер. с англ. под общей ред. А. Н. Саурова.
:. — М.: Техносфера, 2010. — 1040 с.: ил. — Изд. осуществлено при финансовой поддержке РФФИ по проекту № 09-08-07050-д. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-263-2: 1600.00.
Первое издание справочника по нанотехнологиям. выпущенное крупнейшим немецким издательством "Шпрингер" в 2004 году, заявило о себе как об основном источнике информации в области научных знаний о нанотехнологиях. Справочник объединяет сведения по технология, механике. материаловедению и надежности. Второе издание увеличилось с 6 до 8 частей, с 38 до 58 глав. Первая часть - введение в наноструктуры и технологии изготовления микро- и наноструктур. включая используемые при этом методы и материалы. Вторая часть справочника посвящена МЭМС/НЭМС и БиоМЭМС/БиоНЭМС приборам. Различные типы сканирующей зондовой микроскопии рассмотрены в третьей части. Четвертая часть посвящена обору нанотрибологии и наномеханики. Обзор смазок на пленках молекулярной толщины представлен в пятой части справочника. Шестая часть знакомит читателя с некоторыми применениями нанотехнологий в промышленном масштабе. седьмая сфокусирована на надежности микроприборов. И, наконец, последняя посвящена технологической конвергенции, которую несут с собой нанотехнологии, в ней также рассмотрены социальные, этические и политические последствия нанотехнолоий. Предметный указатель приведен в конце третьего тома. Книга подготовлена опытным редактором и написана командой из 150 известных международных экспертов. Она адресована инженерам-механикам и инженерам-электрикам. специалистам по материаловедению, медикам и химикам, которые работают в области нано-, или в областях, так или иначе связанных с этой новой важнейшей технологией.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
22
Непийко, Сергей Алексеевич.
Физические свойства малых металлических частиц / С. А. Непийко; АН УССР, Институт физики. — Киев: Наукова думка, 1985. — 246 с.: ил. — Предм. указ.: с. 244-246. — Библиогр.: с. 224-243. — 3.10.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
23
Физика твердого тела: республиканский межведомственный научно-технический сборник / Донецкий государственный университет (Донецк); отв. ред. В. И. Архаров. — Киев: Вища школа, 1978. — 82+6 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 0.80.
В сборник включены работы по электронным свойствам металлов, физике полупроводников и диэлектриков, металлофизике, содержащие новые результаты теоретических и экспериментальных исследований. Рассмотрены вопросы взаимодействия электронных и ионных пучков с кристаллами, методики получения и исследования кристаллов с применением рентгеновского анализа, электронной микроскопии, методов ЭПР, ЯМР и др. Сборник рассчитан на научных работников и инженеров, занимающихся исследованиями в области физики твердого тела.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
24
Суворов, Александр Леонидович.
Структура и свойства поверхностных атомных слоев металлов / А. Л. Суворов. — М.: Энергоатомиздат, 1989. — 296 с.: ил. — Библиогр.: с. 289-295. — ISBN 5-283-03731-2: 4.40.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
25
Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия: учеб. для студ. вузов, обуч. по спец. "Физика металлов", "Металловедение , оборудование и технология термической обработки металлов" / Я. С. Уманский [и др.]. — М.: Металлургия, 1982. — 630 с.: ил. — Библиогр.: с.628-630. — 1.40.
Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и растровой электронной микроскопии. Описаны методы локального элементного анализа, основанные на различных видах взаимодействия быстрых электронов с веществом. Учебник предназначен для студентов металлургических и политехнических вузов, специализирующихся в области металлофизики, металловедения и физико-химических исследований материалов. Может быть полезен инженерам исследователям, работающим в области металлофизики, физического металловедения и физико-химических исследований, технологии производства и обработки металлических материалов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
26
Физическая электроника : респ. межвед. науч.-техн. сб. / Львовский политехнический институт ; редкол. : И. Д. Набитович (отв. ред.) [и др.]. — Львов; : Вища школа.
:. — Львов: Вища школа, 1979. — 141 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 1.20.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
27
Физическая электроника: сб. науч. тр. / Ленинградский политехнический институт им. М. И. Калинина; отв. ред. К. П. Селезнев. — Л.: Ленинградский политехнический институт, 1977. — 124 с.: ил. — (Труды Ленинградского политехнического института им. М. И. Калинина). — Библиогр. в конце ст. — 1.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
28
Физическая электроника : респ. межвед. науч.-техн. сб. / Львовский политехнический институт ; редкол. : И. Д. Набитович (отв. ред.) [и др.]. — Львов; : Вища школа.
:. — Львов: Вища школа, 1981. — 155 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 1.30.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
29
Физическая электроника : респ. межвед. науч.-техн. сб. / Львовский политехнический институт ; редкол. : И. Д. Набитович (отв. ред.) [и др.]. — Львов; : Вища школа.
:. — Львов, 1981. — 160 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 1.30.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
30
Физическая электроника : респ. межвед. науч.-техн. сб. / Львовский политехнический институт ; редкол. : И. Д. Набитович (отв. ред.) [и др.]. — Львов; : Вища школа.
:. — Львов, 1980. — 163 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 1.20.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
31
Физическая электроника : респ. межвед. науч.-техн. сб. / Львовский политехнический институт ; редкол. : И. Д. Набитович (отв. ред.) [и др.]. — Львов; : Вища школа.
:. — Львов, 1980. — 166 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 1.30.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
32
Физическая электроника : респ. межвед. науч.-техн. сб. / Львовский политехнический институт ; редкол. : И. Д. Набитович (отв. ред.) [и др.]. — Львов; : Вища школа.
:. — Львов: Вища школа, 1979. — 166 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 1.40.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
33
Физическая электроника : респ. межвед. науч.-техн. сб. / Львовский политехнический институт ; редкол. : И. Д. Набитович (отв. ред.) [и др.]. — Львов; : Вища школа.
:. — Львов, 1978. — 110 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 1.10.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
34
Физическая электроника : респ. межвед. науч.-техн. сб. / Львовский политехнический институт ; редкол. : М. В. Пашковский (зам. отв. ред.) [и др.]. — Львов; : Вища школа.
:. — Львов: Вища школа, 1977. — 102 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 0.90.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
35
Физическая электроника : респ. межвед. науч.-техн. сб. / Львовский политехнический институт ; редкол. : А. И. Андриевский (отв. ред.) [и др.]. — Львов; : Издательство Львовского университета.
:. — Львов: Издательство Львовского университета, 1973. — 116 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 0.99.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
36
Морфология поверхности и структура пленок SiO2 и BN, полученных методом газофазного химического осаждения: научное издание / А. В. Панин [и др.]; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск), Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (Томск), Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН (Новосибирск) // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования / Рос. акад. наук, Отд-ние физических наук РАН. — 2003. — N6 . — С. 43-46. — ISSN 0207-3528.
Методами атомно-силовой и просвечивающей электронной микроскопии исследованы морфология поверхности и структура тонких пленок двуокиси кремния, нитрид бора, а также их двухслойной композиции. Пленки наносились методом газофазного химического осаждения по подложки GaAs. Показано, что температура подложки оказывает существенное влияние на рельеф поверхности и внутреннюю микроструктуру диэлектрических пленок. Слои, нанесенные при 473К, имеют аморфное строение с кристаллическими включенииями, а при 573К и выше являются нанокристаллическими. Усатновлено качественное соответствие между морфологией поверхности и структурой исследованных пленок.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
37
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2-х кн. / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой, под ред. В. И. Петровой. — М.; : Мир.
:. — М.: Мир, 1984. — 303, [1] с.: ил., табл. — 3.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
38
Олфрей, Г. Ф.
Физическая электроника / Г. Ф. Олфрей ; пер. с англ. В. И. Гайдука. — М.: Мир, 1966. — 316 с.: ил. — Библиогр.: с. 303-308. — 1.25.
Книга посвящена физическим основам работы различных электронных приборов. После краткого исторического введения изложены основные сведения из атомной и молекулярной физики, теории кристаллов, полупроводников и диэлектриков. В весьма популярной форме, но достаточно строго трактуется физический смысл ряда сложных явлений и понятий современной физики (уравнение Шредингера, переходы между уровнями и т. д.). К числу рассмотренных электронных приборов относятся вакуумные лампы от триодов до СВЧ-устройств, газоразрядные приборы и полупроводниковые элементы. Отражены новые направления использования плазмы газового разряда—термоядерный синтез, магнитогидродинамические генераторы и электрические ракетные двигатели. В последней главе книги с позиций квантовой электроники описаны лазеры и мазеры. Книга может быть использована в качестве дополнительного пособия студентами физических и физико-технических факультетов университетов и втузов, она также представляет интерес для широкого круга читателей — инженеров и неспециалистов, которые хотят познакомиться с современным состоянием физики и практическими применениями, основанными на ее достижениях.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
39
Борзяк, Петр Григорьевич.
Электронные процессы в островковых металлических пленках / П. Г. Борзяк, Ю. А. Кулюпин; АН УССР, Институт физики. — Киев: Наукова думка, 1980. — 239 с.: ил. — Предм. указ.: с. 238-239. — Библиогр.: с. 221-237. — 2.70.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
40
Всесоюзный симпозиум по физике поверхности твердых тел.
Физика поверхности твердых тел: тезисы докладов Всесоюзного симпозиума / Всесоюзный симпозиум по физике поверхности твердых тел (ноябрь 1983 г. ; Киев) , Институт физики АН Украинской ССР (Киев), Научный совет по проблеме "Физическая электроника" АН СССР, Научный совет по проблеме "Физика, химия и механика поверхности" АН СССР. Всесоюзный симпозиум по физике поверхности твердых тел (ноябрь 1983 г. ; Киев) ; отв. ред. Ю. Г. Птушинский, ред.: А. Н. Алешин, П. Г. Борзяк, Ю. А. Кулюпин, А. Г. Паумовец, О. А. Панченко, А. Г. Федорус. — Киев: Наукова Думка, 1983. — 128 с. — 0.45.
Сборник содержит тезисы докладов всесоюзного симпозиума по физике поверхности твердых тел (Киев, ноябрь 1983 г.). Отражены результаты экспериментальных и теоретических исследований физических процессов на атомно-чистых поверхностях и на поверхностях, покрытых контролируемыми адсорбированными пленками. Рассмотрены вопросы атомной структур и электронных свойств поверхностей., фазовых переходов на поверхностях, кинетики процессов адсорбции и поверхностной диффузии, поверхностной ионизации. Для физиков.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
41
Хокс, П.
Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; пер. с англ. И. Ф. Анаскина, А. М. Розенфельда, под ред. И. Г. Стояновой. — Б.м.: Мир, 1974. — 318 с.: ил. — Предм. указ.: с. 315-318. — Библиогр.: с. 296-299. — 1.66.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
42
Исследования в области спектроскопии и квантовой электроники: тезисы докл. IX республ. конф. молодых ученых по спектроскопии и квантовой электроники, Паланга, 23-25 мая 1989 г. / АН ЛитССР, Институт физики, Вильнюсский университет. — Вильнюс: Институт физики АН ЛитССР, 1989. — 145 с.: ил. — Алф. указ.: с. 139-145. — 1.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
43
Наноструктурные покрытия / под ред.: А. Кавалейро, Д. Хоссона де, пер. с англ. А. В. Хачояна под ред. Р. А. Андриевского. — М.: Техносфера, 2011. — 752 с.: цв.ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-182-6: 1300.00.
Сборник подготовлен международным коллективом ведущих специалистов в области нанонауки и наноструктурных покрытий. Изложены основные сведения о синтезе сверхтвердых пленок на основе тугоплавких соединений, их структуре, фазовом составе. физико-механических свойствах и сферах применения. Подробно характеризуются методы исследования покрытий: просвечивающая электронная микроскопия, наноиндентирование и компьютерный эксперимент. детально анализируются теоретические и опытные данные о природе деформации и разрушения сверхтвердых покрытий. Особое внимание уделено их трибологическим характеристиками и термической стабильности. Сборник будет полезен ученым, инженерам и преподавателям высшей школы, студентам и аспирантам, специализирующимся в области нанотехнологий, наноматериалов и нанопокрытий.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
44
Фролов, Георгий Иванович.
Нанокристаллические магнитные пленки / Г. И. Фролов, В. С. Жигалов ; отв. ред. В. Ф. Шабанов; Сиб. гос. аэрокосм. ун-т им. М. Ф. Решетнева, Ин-т физики им. Л. В. Киренского СО РАН. — Красноярск: ИФ, 2012. — 141, [1] с.: ил.; 21 см. — Библиогр.: с. 135-142. — ISBN 978-5-86433-532-1: 150.00.
Рассматривается одна из самых актуальных научных проблем, лежащих на стыке материаловедения, химии и физики твердого тела - нанокристаллическое состояние вещества. Особое место среди нанокристаллических материалов занимают магнетики, так как в них наиболее полно проявляются особенности перехода к на-нокристаллической структуре. Освещены вопросы корреляции структуры и физических свойств наночастиц 3d-металлов, технология получения и свойства нанокристаллических и наногранулированных магнитных пленок, а также потенциальные возможности их практического использования. Для специалистов в области физики твердого тела, материаловедения, для студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
45
Структурно-фазовые состояния и механические свойства толстых сварных швов: монография / В. П. Гагауз [и др.] ; рец.: В. Я. Целлермаер, В. В. Муравьев; Сибирский государственный индустриальный университет (Новокузнецк), Томский государственный архитектурно-строительный университет (Томск), ОАО "Новокузнецкдомнаремонт" (Новокузнецк). — Новокузнецк: СибГИУ, 2008. — 130 с.: ил. — Библиогр.: с. 120-130. — ISBN 978-5-8441-0285-1: 184.00.
Монография посвящена анализу формирования и изменения структуры, фазового состава и механических свойств толстых сварных соединений из стали 091'2С, выполненных различными способами, в зависимости от условий их получения и сроков эксплуатации. Выполнен анализ зеренной и дефектной субструктур и фазового состава толстых сварных швов и обосновано их деление на три закономерно расположенные зоны, характеризующиеся различной кинетикой и термодинамикой формирования градиентных структурно-фазовых состояний на основании анализа результатов комплексных исследований предложен способ диагностики наиболее напряженных участков шва, в которых могут зарождаться трещины. Полученные результаты исследования являются основой прогнозирования времени безопасной эксплуатации сварных соединений и целенаправленного выбора оптимального типа и способа сварки. Д ля неразрушающего контроля состояния сварных швов крупногабаритных конструкций рекомендовано измерение скорости ультразвука. Книга предназначена для специалистов в области физики конденсированного состояния, физического материаловедения, металловедения и термообработки металлов. Может быть полезна аспирантам и студентам старших курсов соответствующих специальностей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
46
Фелдман, Леонард.
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер ; пер. с англ. под ред. В. В. Белошицкого. — М.: Мир, 1989. — 342, [2] с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-03-001017-3: 3.70.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
47
Степанова, Екатерина Николаевна.
Сравнительное исследование эволюции структурно-фазового состояния титанового сплава Ti-6Al-4V-H в процессе дегазации отжигом в вакууме и облучением электронным пучком: научное издание / Е. Н. Степанова, Г. П. Грабовецкая; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск) // Материаловедение, технологии и экология на рубеже веков: материалы всероссийской конф. молодых ученых.
Методами электронно-микроскопического и рентгеноструктурного анализов исследованы особенности эволюции структурно-фазового состояния наноструктурного сплава Ti-6Al-4V-H в процессе вакуумного отжига и облучения пучком электронов. Показано, что сочетание предварительного легирования водородом, горячего прессования и изотермического отжига в вакууме позволяет сформировать в сплава Ti-6Al-4V субмикрокристаллическую структуру со средним размером зерен менее 0,3 мкм. Установлено, что использование для дегазации по водороду облучения электронным пучком снижает не только температуру выхода водорода. но также и температуру рекристаллизации СМК структуры.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
48
Хокс, Л.
Электронная оптика и электронная микроскопия: Пер. с англ. И. Ф. Анаскина, А. М. Розенфельд / Л. Хокс; Под ред. И. Г. Стояновой. — М.: Мир, 1974. — 320 с.: ил. — Предм. указ.: с. 315-318. — 1.66.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
49
Электроника для экспериментальной физики: сб. науч. тр. / Моск. инж.-физ. ин-т; под ред. Т. М. Агаханяна. — М.: Энергоатомиздат, 1986. — 83 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 0.80.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
50
Суздалев, Игорь Петрович.
Электрические и магнитные переходы в нанокластерах и наноструктурах / И. П. Суздалев. — М.: URSS, 2012. — 474 с.: ил.; 22 см. — Библиогр.: с. 458-459. — ISBN 978-5-396-00416-0: 480.00.
Настоящая монография посвящена электрическим и магнитным переходам в нанокластерах, наноструктурах, наноматериалах и наноустройствах. Рассматриваются существующие модели коллективизированных и локализованных электронов, а также механизмы переходов металл—изолятор и магнетик—парамагнетик. На протяжении всей книги проводится рассмотрение оригинальных авторских моделей фазовых переходов первого рода, трактующих наблюдаемые электрические и магнитные переходы первого рода в ряде нанокластеров и наноструктур с помощью критического размера нанокластера, когда электропроводимость и намагниченность изменяется скачком, а также критической концентрации дефектов в наноструктурах для возникновения фазовых переходов первого рода. Приводится оригинальная авторская модель перехода массивного твердого тела в наноструктуру, появление которой сопровождает фазовые переходы первого рода в окислах ванадия и европия. Рассматриваются переходы в изолированных нанокластерах и наноструктурах и эффекты, связанные с такими переходами; в их число включены: электрические и магнитные переходы в изолированных нанокластерах металлов и оксидов металлов, электрические и магнитные свойства нанотрубок, электрические и магнитные свойства поверхности оксидов, магнитные и структурные переходы в наноструктурах на основе оксидов железа aFe203 и YFe203, электрические и магнитные переходы в Fe304, V203, V02 и ЕиО, электрические поляризационные переходы в сегнетоэлектриках, эффекты квантового магнитного туннелирования, гигантское магнетосопротивление, мультиферроики, спинтроники, пьезоэлектрики, магнитостриктеры, термоэлектрики, хемоэлектрики и метаматериалы. Книга рекомендуется широкому кругу научных работников, специализирующихся в области физики, химии и нанотехнологий, а также студентам и аспирантам.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи