Авторы книги Г. Липсон и Г. Стипл - английские ученые, специалисты в области рентгенографии, причем первый из них известен советским читателям по переводу книги, написанной на высоком теоретическом уровне (Липсое Г., Кокрен В., Определение структуры кристаллов, ИЛ, 1956). Предлагаемая книга представляет собой модернизированное пособие по непрерывно совершенствующимся порошковым методам, которое включает все достижения последних лет, как экспериментальные, так и теоретические. Она риссчитана на рентгеноструктурщиков, использующих в основном порошковые рентгенограммы, а также на студентов, осваивающих порошковые методы рентгеноструктурного анализа.

В пособии обсуждаются проблемы рентгеноструктурного анализа нанокристаллических материалов, излагаются современные рентгенографические методики исследования наноразмерных и наноструктурированных систем. Рассматриваются особенности рентгеновской дифракции для ID и 3D когерентных наноструктур. Пособие предназначено для магистрантов ФФ НГУ, обучающихся на кафедре физических методов исследования твердого тела, а также студентов других кафедр и факультетов, занимающихся исследованием структуры нанокристаллических материалов. Предполагается, что обучающиеся знакомы с началами кристаллографии и теории рассеяния рентгеновских лучей.

В пособии кратко изложен материал, необходимый для понимания методов рентгенографии, используемых для первичной характеристики фазового состава и дисперсности гетерогенных катализаторов, в том числе бифункциональных оксидных систем, а также дается понятие о возможностях прецизионных методов современной порошковой рентгенографии, необходимых при более детальном исследовании структурных характеристик катализаторов, Для студентов, аспирантов и исследователей в области катализа, использующих физико-химические методы для характеристики гетерогенных катализаторов.

Первое в советской и зарубежной учебной и монографической литературе систематическое изложение теории дифракции в объеме, необходимом для исследования электронного строения монокристаллов. В пособии изложены основы кинематической теории дифракции рентгеновских лучей в применении к исследованию электронной плотности в монокристаллах, рассмотрено влияние на интенсивность дифрагированного кристаллом луча ангармонических тепловых колебаний, теплового диффузионого рассеяния, анизотропии электронной плотности атомов, изотропной и анизотропной экстинкции, поглощения рентгеновских лучей в исследуемом кристалле.

В монографии с помощью метода флуктуационных волн рассмотрено рассеяние рентгеновских лучей и нейтронов на флуктуационных неоднородностях концентрации и параметров порядка в твердых растворах, однокомпонентных упорядочивающихся кристаллах и системах, находящихся вблизи точек фазового перехода второго рода. Проанализирована информация об этих системах, которая может быть получена с помощью дифракционных исследований. Изложен ряд общих вопросов строения твердых растворов, теории фазовых переходов и флуктуаций в рассматриваемых системах. Рассчитана на научных работников, занимающихся теоретическими и экспериментальными исследованиями в области дифракции рентгеновских лучей и нейтронов, физики твердого тела, металлофизики и материаловедения, а также на студентов старших курсов соответствующих специальностей.

Книга посвящена изложению нового и весьма эффективного направления в теории дифракции, удобного для применения в инженерной практике при расчете антенн и трактов дециметрового, сантиметрового, миллиметрового диапазонов, а также в области распространения волн. Она является первым систематическим изложением геометрической теории дифракции.Книга предназначена научным работникам, занимающимся вопросами техники канализации, излучения и распространения радиоволн.

Монография посвящена исследованию дифракционных явлений на протяженных (по глубине) объектах постоянной толщины - пластинах - применительно к их размерному контролю. Предложена и разработана конструктивная оптико-физическая модель дифракции света на основе эквивалентных диафрагм и полей, что позволило при расчетах полей в дальней зоне и в плоскости изображений граней протяженного объекта использовать стандартные методы фурье-оптики на базе скалярной теории дифракции света Кирхгофа - Френеля. Решения получены в классе интегральных функций Френеля для пластин с различной конфигурацией и отражательной способностью. На основе предложенной конструктивной аппроксимации интегральной функции Френеля детально изучено в аналитическом виде поведение спектров и изображений протяженных объектов с учетом их геометрических и оптических характеристик, а также параметров оптической системы. Результаты исследований подтверждены экспериментально.Книга адресована научным работникам, инженерам, аспирантам, специализирующимся в области оптических измерительных технологий, а также студентам старших курсов университетов.

Изложены физические основы теории металлического состояния, освещаются вопросы структуры чистых металлов, твердых растворов и интерметаллических соединений, электронная и кристаллическая структура металлов и сплавов. Рассматриваются основы термодинамики, принципы построения диаграмм состояния и теория диффузии, основные вопросы теории затвердевания: гомогенное и гетерогенное зарождение, рост дендритных и ячеистых кристаллов и т. д. Для научных работников, занятых в области физики металлов, металловедов, работников заводских лабораторий, а также преподавателей, аспирантов и студентов старших курсов металлургических и машиностроительных институтов.

Приведены справочные данные, необходимые для получения и измерения рентгенограмм поликристаллов и монокристаллов различных веществ. Приведены описания и технические данные для серийно выпускаемой рентгеновской аппаратуры, описаны свойства детекторов излучения, фильтров и монохроматоров. Даны таблицы и графики для получения и измерения рентгенограмм неподвижных и движущихся монокристаллов. Для получения рентгенограмм поликристаллов приведены условия съемки и установки камер, данные для определения углов скольжения. Для определения межплоскостных расстояний построены графики, позволяющие проводить расчеты как по результатам измерений углов скольжения, так и непосредственно по диаграммной ленте дифрактометра. Справочное руководство предназначено для работников заводских лабораторий и научно-исследовательских институтов, изучающих структур и свойства материалов, а также студентов соответствующих специальностей.

Приведены справочные данные и методические указания для индицирования ретгенограмм монокристаллов и поликристаллов различных веществ. Описаны методы индицирования лауэграмм прямой и обратной съемки, рентгенограмм вращения и других видов рентгенограмм монокристаллов. Приведены диаграммы для индицирования рентгенограмм кристаллов с различной структурой при различных ориентировках, диаграммы могут служить как для индицирования, так и для определения ориентировки кристаллов, Описаны аналитические и графические методы индицирования рентгенограмм поликристаллов, а также методы переменного масштаба и гомологии. Приведено большое число таблиц и графиков для индицирования рентгенограмм поликристаллов веществ с кубической, тетрагональной, гексагональной, ромбоэдирческой, моноклинной и другими структурами.

В книге излагаются теория протекания и ее различные применения. Несмотря на то, что теория протекания возникла лишь в 1957 г., она успела завоевать прочные позиции в различных областях науки, преимущественно в физике и химии. В книге содержатся необходимые сведения из элементарной теории вероятностей, подробно обсуждается метод Монте-Карло в применении к моделированию процессов протеканияс помощью ЭВМ. Особое внимание уделяется связи между геометрическими и физическими свойствами системы в окрестности порога протекания. В качестве применений рассмотрены электропроводность примесных полупроводников, свойства ферромагнетиков с примесями и ряд других вопросов. Книга содержит упражнения. Предназначена для старших школьников, студентов, преподавателей. Может использоваться в качестве пособия для факультативного изучения теории протекания.

Обобщены экспериментальные и теоретические исследования воздействия малых доз ионизирующего излучения (рентгеновских лучей, y-квантов, электронов) на полупроводниковые монокристаллы, полупроводниковые структуры и приборы, металлы, сплавы, режущий, буровой и волочильный инструменты, а также исследования радиационно-стимулированной миграции, диффузии и выхода водорода из твердого тела. Заложена феноменологическая модель упорядочения структуры дефектных кристаллов и изменения физических и механических свойств материалов под действием ионизирующего излучения. Для научных и инженерно-технических работников, занимающихся радиационной физикой твердого тела, модификацией свойств полупроводников и металлов, проблемой материалов для термоядерных и ядреных реакторов. вопросами водородной энергетики. Полезна аспирантам, магистрам и студентам соответствующих специальностей.

В сборнике излагаются результаты экспериментального и теоретического исследования процессов сильных взаимодействий адронов космических лучей при энергиях 10.14-10.17 эВ, проведенного по программе международного эксперимента "Памир". Описаны устройство больших рентгеноэмульсионных камер и методика обработки рентгеновских пленок. Приведены теоретические и модельные расчеты ядерно-электромагнитных каскадов в атмосфере. Книга предназначена для научных сотрудников, аспирантов и студентов, работающих в области высоких энергий и космических лучей.

В пособии изложены основы классической кристаллографии, приведены математические методы описания структуры кристаллов, основные сведения о физических и химических несовершенствах полупроводниковых материалов. Основное внимание уделено кристаллам кубической системы. Рассмотрен одни из методов ориентации кристаллов - метод световых фигур. Описаны свойства различных видов дислокаций и методы их исследования. В приложении дан задачник по основным разделам пособия с примерами решения. Для студентов и преподавателей технических вузов.

Основное содержание составляет описание методики проведения дифракционных экспериментов с использованием как стационарных, так и импульсных источников нейтронов. Предназначена в первую очередь для физиков-экспериментаторов, которые не являются специалистами по структурной нейтронографии, но нуждаются в пособии, знакомящем их с современными методами дифракции нейтронов. Полезна также студентам старших курсов, специализирующимся в области нейтронной физики.

Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и растровой электронной микроскопии. Описаны методы локального элементного анализа, основанные на различных видах взаимодействия быстрых электронов с веществом. Учебник предназначен для студентов металлургических и политехнических вузов, специализирующихся в области металлофизики, металловедения и физико-химических исследований материалов. Может быть полезен инженерам исследователям, работающим в области металлофизики, физического металловедения и физико-химических исследований, технологии производства и обработки металлических материалов.