Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 36 - 40 из 2200 для dc.subject any/relevant "электроника эле ... ( 0.239 сек.)

36
Неокислительная конверсия метана в ароматические углеводороды на Ni-Mo/ZSM-5-катализаторах / Л. Л. Коробицына, В. И. Зайковский, В. В. Козлов [и др.]; Институт химии нефти СО РАН (Томск), Институт катализа им. Г. К. Борескова СО РАН (Новосибирск) // Химия нефти и газа. — 2009. — . — С. 553-556.
Изучен процесс неокислительной конверсии метана в ароматические углеводороды на цеолитах, модифицированных Mo и Ni. Методом просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения исследована структура и состав Ni-Mo/ZSM-5-катализаторов. Было показано, что в системе имеется два типа частиц: кластеры молибдена (размером 1 нм) во внутренних каналих цеолита, частицы карбида Mo и Ni-Mo на поверхности цеолита. На частицах Ni-Mo наблюдался рост нанотрубок. Изучено влияние добавки никеля к 4,0% Mo/ZSM-5-катализатору.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
37
Практическая растровая электронная микроскопия / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; под ред. Дж. Гоулдстейна, Х. Яковица ; пер.с англ. под ред. В. И. Петрова. — М.: Мир, 1978. — 656 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — Имен. и предм. указ.: с. 643-650. — Библиогр.: с. 615-642. — 4.70.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
38
Carbon nanotube devices: properties, modeling, integration and applications / ed. C. Hierold. — Weinheim: Wiley-VCH, 2008. — XII,363 p.: ill.; 24 cm. — (Advanced micro & nanosystems, 1865-1399). — Ind.: p. 351-363. — Bibliogr. at the end of the chapters. — ISBN 978-3-527-31720-2: 300.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
39
Добровольский, Глеб Всеволодович.
Растровая электронная микроскопия почв [Текст] / Г.В. Добровольский, С.А. Шоба. — М.: Изд-во Моск. ун-та, 1978. — 141, [3] с.: ил. — Библиогр.: с. 132-142. — 1.80.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
40
Fultz, Brent.
Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / B. Fultz, J. Howe. — 3rd ed. — Berlin; Heidelberg; New York: Springer, 2008. — XIX,758 p.: ill.; 24 cm. — Bibliogr.: p. 677-689. — ISBN 978-3-540-73885-5: 3378.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи