Моделирование свойств, электронной структуры ряда углеродных и неуглеродных нанокластеров и их взаимодействия с легкими элементами [Мультимедиа] : научное издание / А. С. Федоров [и др.] ; ред. В. В. Вальков; Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН (Красноярск), Институт железнодорожного транспорта (Красноярск), Красноярский государственный технический университет (Красноярск). — Электрон. дан. — Новосибирск: СО РАН, 2006. — Загл. с этикетки диска. — Системные требования: ПРОЦЕССОР КЛАССА НЕ НИЖЕ PENTIUM 1, ДИСКОВОД CD-ROM 2-Х И ВЫШЕ, WINDOWS 95/98/XP/2000, МЫШЬ.

Springer handbook of nanotechnology / ed.: B. Bhushan. — 2nd rev. a. extended ed. — Berlin; Heidelberg; New York: Springer, 2007. — XLIV, 1916 p.: Ill. + 1o=эл. опт. диск (CD-ROM). — Bibliogr. at the end of the art. — ISBN 3-540-29855-X: 1200.00.

Реактивы и препараты для микроскопии: справочник / Д. М. Фрайштат. — М.: Химия, 1980. — 479, [1] с.: ил., табл. — Предм. указ.: с. 463-479. — 2.60.

Applied scanning probe methods / B. Bhushan, H. Fuchs, S. Hosaka. — Berlin; Heidelberg; New York: Springer, 2004. — XX,476 p.: ill.; 24 cm. — (Nanoscience and technology, 1434-4904). — Bibliogr. at the end of the chapters. — ISBN 3-540-00527-7.

Электронная оптика и электронная микроскопия: Пер. с англ. И. Ф. Анаскина, А. М. Розенфельд / Л. Хокс; Под ред. И. Г. Стояновой. — М.: Мир, 1974. — 320 с.: ил. — Предм. указ.: с. 315-318. — 1.66.