| 51 |
|
Экситоны и биэкситоны в полупроводниках: сб. статей / АН МССР, Институт прикладной физики; редкол. : В. А. Москаленко (отв. ред.) [и др.]. — Кишинев: Штиинца, 1982. — 314 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 3.10. |
| 52 |
|
Магнитные материалы для радиоэлектроники: сб. статей / АН СССР, Сиб. отд-ние, Институт физики им. Л. В. Киренского; отв. ред. В. А. Игнатченко, Г. И. Фролов. — Красноярск: Институт физики, 1982. — 219 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 0.75. |
| 53 |
|
Диагностика приповерхностного слоя и управление его свойствами (Актуальные вопросы физической электроники): сб. науч. тр. / Ленингр. политехн. ин-т им. М. И. Калинина; редкол. : Ю. С. Васильев (отв. ред.) [и др.]. — Л.: ЛПИ, 1983. — 97 с.: ил. — (Труды Ленинградского политехнического института им. М. И. Калинина, 0376-1304). — Библиогр. в конце ст. — 1.00. |
| 54 |
|
Лазерные методы исследования дефектов в полупроводниках и диэлектриках / АН СССР, Институт общей физики; отв. ред. тома А.А. Маненков. — М.: Наука, 1986. — 153 с.: ил. — (Труды Института общей физики АН СССР / гл. ред. А. М. Прохоров). — Библиогр. в конце ст. — 2.20. |
| 55 |
|
Прецизионные измерения физических величин на основе квантовой теории твердого тела: сб. ст. / Всесоюзн. науч.-исслед. ин-т физ.-техн. и радиотехн. измерений; отв. ред. Л. М. Пятигорский. — М.: ВНИИФТРИ, 1972. — 127 с.: ил. — (Труды ВНИИФТРИ). — Библиогр. в конце тр. — 0.50. |