| 11 |
|
Микроэлектроника: сборник тезисов докладов / Симпозиум по микроэлектронике (в рамках двустороннего сотрудничества АН СССР и АН ГДР) (15-20 октября 1984 г. ; Москва). — М.: Институт общей физики АН СССР, 1984. — 104 с.: ил. — Библиогр. в конце ст.
В настоящий сборник включены рабочие материалы симпозиума по теме сотрудничества "Создание научного задела для микроэлектроники" АН ГДР и АН СССР (г. Москва, СССР, 15-20 октября 1984 г.), посвященного результатам совместных работ по исследованию материалов, технологических процессов и приборов микроэлектроники.
|
| 12 |
|
Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование: [сб. ст.] / отв. ред. А. А. Орликовский. — М.: Наука, 2005. — 414,[1] с.: ил.; 24 см. — (Труды ФТИАН / Рос. акад. наук, Физ.-технол. ин-т ; гл. ред. К. А. Валиев, 0868-7129). — Библиогр. в конце ст. — ISBN 5-02-033950-4: 194.00. |
| 13 |
|
Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование: [сб. ст.] / отв. ред. А. А. Орликовский. — М.: Наука, 2009. — 177 с.: ил. — (Труды ФТИАН / Рос. акад. наук, Физ.-технол. ин-т ; гл. ред. К. А. Валиев, 0868-7129). — Библиогр. в конце ст. — ISBN 978-5-02-036976-4: 292.50.
Сборник, посвященный 20-летию Физико-технологического института РАН, включает в себя статьи по актуальным проблемам микро- и наноэлектроники, микро- и наноэлектромеханики и твердотельных квантовых компьютеров. Рассмотрены перспективы реализации полномасштабных квантовых компьютеров на ионных ловушках в твердотельных структурах, проанализирован перенос электрона в одномерных многоямных структурах. Особое внимание уделено важнейшим вопросам физики и моделирования нанотранзисторов (кремниевые в ультратонком кремнии на изоляторе, туннельные, с графеновым каналом и др.). Исследованы межподзонные оптические переходы в структурах с разрывом запрещенной зоны. Представлены статьи по моделированию электромиграционного разрушения тонкопленочных проводников, прочности границы соединенных материалов в зависимости от их микроструктуры и содержания точечных дефектов, моделированию каналов нейтрализации источников пучков быстрых нейтралов, дается обзор плазменных процессов в технологии МЭМС. Для специалистов в области микро- и наноэлектроники.
|
| 14 |
|
Флуктуации и шумы в электронных твердотельных приборах / Г. П. Жигальский. — М.: Физматлит, 2012. — 512 с.: ил.; 22 см. — Библиогр. в конце гл. — ISBN 978-5-9221-1382-3: 726.00.
Флуктуации и шумы определяют чувствительность приемных и измерительных электронных устройств. В наноэлектронике шумами ограничивается минимальный размер элемента, а также плотность записи информации в магнитных записывающих устройствах. По 1/f-шуму удается оценивать качество и прогнозировать надежность интегральных схем и устройств на их основе, не прибегая к долговременным и дорогостоящим испытаниям, причем с такой высокой достоверностью, какую не дают другие известные методы. Все эти вопросы, а также способы описания и физические модели различных шумов (1/f-шума, фликкер-шума и др.), а также методы измерения и снижения шума описаны в данном учебном пособии, написанном на основе курса лекций, прочитанных автором в Московском институте электронной техники. Для студентов старших курсов, магистрантов, аспирантов, а также научных сотрудников и инженеров.
|
| 15 |
|
Тезисы докладов XI Всесоюзной конференции "Генераторы низкотемпературной плазмы" (20-23 июня 1989 г.) / АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т теплофизики; гл. ред. М. Ф. Жуков. — Новосибирск, 1989. — 423 с.: ил. — 2.00.
|