Введение в структурный анализ нанокристаллов: учеб. пособие / С. В. Цыбуля, С. В. Черепанова ; рец. Ю. В. Шубин; Новосибирский государственный университет (Новосибирск), каф. физических методов исследования твердого тела. — Новосибирск: НГУ, 2009. — 87 с.: ил. — (Физика в НГУ). — Изд. подготовлено в рамках выполнения инновационно-образовательной программы "Инновационные образовательные программы и технологии, реализуемые на принципах партнерства классического университета, науки, бизнеса и государства" национального проекта "Образование". — Библиогр.: с. 79-84. — ISBN 978-5-94356-762-9: 123.00.
В пособии обсуждаются проблемы рентгеноструктурного анализа нанокристаллических материалов, излагаются современные рентгенографические методики исследования наноразмерных и наноструктурированных систем. Рассматриваются особенности рентгеновской дифракции для ID и 3D когерентных наноструктур. Пособие предназначено для магистрантов ФФ НГУ, обучающихся на кафедре физических методов исследования твердого тела, а также студентов других кафедр и факультетов, занимающихся исследованием структуры нанокристаллических материалов. Предполагается, что обучающиеся знакомы с началами кристаллографии и теории рассеяния рентгеновских лучей.