Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 26 - 30 из 11441 для dc.subject any/relevant "физико-математи ... ( 0.417 сек.)

26
Шнитов, Владимир Викторович.
Исследование электронно-стимулированной модификации фуллерита C60 методами электронной спектроскопии: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / В. В. Шнитов ; науч. рук. В. М. Микушкин, офиц. оппоненты: А. Я. Вуль, Л. Г. Герчиков; Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН (СПб.), Санкт-Петербургский государственный университет (СПб.). — СПб., 2009. — 19 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 18-19.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
27
Физическая природа формирования и эволюции градиентных структурно-фазовых состояний в сталях и сплавах / В. В. Коваленко [и др.] ; рец.: В. И. Данилов, Е. А. Будовских; Сибирский государственный индустриальный университет (Новокузнецк), Томский государственный архитектурно-строительный университет (Томск), Межгосударственный координационный совет СНГ по физике прочности и пластичности материалов. — Новокузнецк: ООО "Полиграфист", 2009. — 557 с.: ил. — (Фундаментальные проблемы современного материаловедения). — Библиогр.: с. 526-556. — ISBN 978-5-8441-0304-9: 214.00.
Приведены результаты экспериментальных исследований формирования и эволюции градиентных структурно-фазовых состояний и дефектной субструктуры сталей и сплавов, подвергнутых ударному нагружению, прокатке, сварке. высокотемпературной цементации, мало- и многоцикловой усталости с обработкой токовыми импульсами. электронно-лучевой обработке, закалке из расплава. Методами оптической, растровой и просвечивающей электронной микроскопии выполнен анализ зеренной и тонкой дефектной структуры и дислокационных субструктур при таких видах воздействия, получены количественные зависимости параметров градиентных структурно-фазовых состояний от расстояния до поверхности обработки. Обсуждены возможные механизмы и природа формирования таких состояний. Книга предназначена для научных и инженерно-технических работников научно-исследовательских институтов, заводских лабораторий, специализирующихся в областях физики конденсированного состояния, металловедения и термической обработки металлов и сплавов и может быть полезна преподавателям, аспирантам и студентам вузов соответствующих специальностей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
28
Фелдман, Леонард.
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер ; пер. с англ. под ред. В. В. Белошицкого. — М.: Мир, 1989. — 342, [2] с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-03-001017-3: 3.70.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
29
Озур, Григорий Евгеньевич.
Источники низкоэнергетических сильноточных электронных пучков на основе пушек с плазменным анодом и взрывоэмиссионным катодом: автореферат дис. ... д-ра техн. наук : 05.27.02 / Г. Е. Озур ; науч. конс. Д. И. Проскуровский, офиц. оппоненты: Н. Н. Коваль, Г. Е. Ремнев, В. А. Бурдовицын; Институт сильноточной электроники СО РАН (Томск), Институт ядерной физики СО РАН (Новосибирск). — Томск, 2008. — 39 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 36-39.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
30
Синдо, Дайзуке.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванова. — М.: Техносфера, 2006. — 256 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-94836-064-4: 168.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи