| 31 |
|
Теория твердого тела / У. Харрисон ; пер. с англ. Г. Л. Краско ; под ред. Р. А. Суриса. — М.: Мир, 1972. — 616 с.: ил. — Предм. указ.: с. 610-613. — 6.58.
|
| 32 |
|
Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев / А. М. Афанасьев, П. А. Александров, Р. М. Имамов. — М.: Наука, 1989. — 151 с.: ил. — Библиогр.: с. 146-151. — 2.10.
|
| 33 |
|
Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках / В. С. Вавилов, А. Е. Кив, О. Р. Ниязова. — М.: Наука, 1981. — 368 с.: ил. — (Физика полупроводников и полупроводниковых приборов). — Библиогр.: с. 367-368. — 2.90.
|
| 34 |
|
Дислокации в кристаллах : библиографический указатель (1965-1970 гг.) / АН СССР, Институт физики твердого тела, Центр. биб-ка по естествен. наукам ; отв. ред. В. И. Никитенко. — М.; : Наука.
:. — М.: Наука, 1974. — 792 с.: ил. — 4.80.
|
| 35 |
|
Методы вычислительной физики в теории твердого тела. Зонная теория металлов / В. В. Немошкаленко, В. Н. Антонов; АН УССР, Институт металлофизики. — Киев: Наукова Думка, 1985. — 408 с.: ил. — Предм. указ.: с. 405-407. — Библиогр.: с. 377-404. — 4.70.
|