| 26 |
|
Эрозия поверхности твердого тела под действием мощных пучков заряженных частиц: автореферат дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.07 / Г. А. Блейхер; Нац. исслед. Томский политехн. ун-т. — Томск, 2011. — 40 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 38-40.
|
| 27 |
|
Закономерности формирования, структурные особенности и свойства покрытий на основе фосфатов кальция, полученных ВЧ-магнетронным осаждением : автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / М. А. Сурменева ; науч. рук. В. Ф. Пичугин, офиц. оппоненты : А. В. Градобоев, Ю. Ф. Иванов; Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Институт физики прочности и материаловедения СО РАН. — Томск, 2012. — 20 с.: ил. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 18-20.
|
| 28 |
|
Радиационная стойкость гетероструктур AIGaAs для светодиодов ИК-диапазона: автореферат дис. ... канд. техн. наук : 01.04.07 / П. В. Рубанов ; науч. рук. А. В. Градобоев, офиц. оппоненты : В. М. Зыков, А. П. Коханенко; Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Юргинский технологический институт (филиал), Научно-исследовательский институт приборов. — Томск, 2012. — 19 с.: ил. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 17-19.
|
| 29 |
|
Диссипативные процессы в высокоомных материалах при высоких уровнях электронного возбуждения: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / С. А. Степанов ; науч. рук. В. Ф. Штанько, офиц. оппоненты : В. Г. Кригер, В. Ф. Пичугин; Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б. Н. Ельцина. — Томск, 2013. — 23 с.: ил. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 23.
|
| 30 |
|
Радиационная стойкость гетероструктур AlGaInP с множественными квантовыми ямами: автореферат дис. ... канд. техн. наук : 01.04.07 / К. Н. Орлова ; науч. рук. А. В. Градобоев, офиц. оппоненты : В. И. Олешко, А. В. Войцеховский; Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Юргинский технологический институт (филиал), Научно-исследовательский институт приборов. — Томск, 2013. — 21 с.: ил. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 20-21.
|