1356 |
|
Исследование сильноточной ионной накачки газовых лазеров: дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / С. С. Сулакшин ; науч. рук. А. Н. Диденко; Томский политехнический институт им. С. М. Кирова (Томск), Научно-исследовательский институт ядерной физики (Томск). — Томск, 1982. — 216 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 197-216.
|
1357 |
|
Разработка методов расчета и анализ магнитных фокусирующих систем с насыщением: автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.27.02 / А. Л. Меркулов ; науч. рук. С. И. Молоковский, офиц. оппоненты: Б. П. Ильин, В. И. Балекин; Ленинградский электротехнический институт им. В. И. Ульянова (Ленина) (Л.), Государственный оптический институт им. С. И. Вавилова. — Л., 1986. — 13 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 13.
|
1358 |
|
Теоретическое моделирование динамики слойного импульсного разряда: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.08 / А. С. Сметанников ; науч. рук. Г. С. Романов, офиц. оппоненты: И. В. Немчинов, А. В. Лучинский; Институт физики АН БССР (Минск), Научно-исследовательский институт прикладных физических проблем им. А. Н. Севченко, Государственный оптический институт им. С. И. Вавилова. — Минск, 1986. — 12 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 11-12.
|
1359 |
|
Электронные ускорители с эмиттером на основе дугового разряда низкого давления: автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.27.02 / В. С. Толкачев ; науч. рук. Ю. Е. Крейндель, офиц. оппоненты: В. Л. Чахлов, В. Т. Барченко; Институт сильноточной электроники СО АН СССР, Научно-исследовательский институт электрофизической аппаратуры им. Д. В. Ефремова. — Томск, 1988. — 18 с. — Для служебного пользования. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 15-18.
|
1360 |
|
Влияние рельефа поверхности и площади на протекание электронных процессов в формованных МДМ-системах: дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / Л. А. Троян ; науч. рук. Г. А. Воробьев; Томский институт автоматизированных систем управления и радиоэлектроники (Томск). — Томск, 1985. — 195 с. — Для служебного пользования. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 176-195.
|