Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 46 - 50 из 7590 для dc.subject any/relevant "физика твердого ... ( 0.372 сек.)

46
Займан, Дж.
Принципы теории твердого тела / Дж. Займан ; пер. со 2-го англ. изд. под ред. В. Л. Бонч-Бруевича. — М.: Мир, 1974. — 472 с.: ил. — Предм. указ.: с. 465-469. — Библиогр.: с. 455-464. — 5.08.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
47
Крэкнелл, Артур Филип.
Поверхность Ферми: Понятие поверхности Ферми, ее определение и использование в физике металлов / А. Ф. Крэкнелл, К. Ч. Уонг ; пер. с англ. Г. И. Бабкина, В. А. Гаспарова, под ред. В. Я. Кравченко. — М.: Атомиздат, 1978. — 350 с.: ил. — Предм. указ.: с. 340-348. — Библиогр.: с. 321-339. — 3.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
48
Изюмов, Юрий Александрович.
Электронная структура соединений с сильными корреляциями: научное издание / Ю. А. Изюмов, В. И. Анисимов. — М.: НИЦ "Регулярная и хаотическая динамика", 2008. — 376 с.: граф. — Библиогр.: с. 346-375. — ISBN 978-5-93972-695-5: 685.10.
Анализируется электронная структура и физические свойства сильно коррелированных систем (содержащих элементы с незаполненными 3d, 4d, 4f и 5f оболочками) на основе теории динамического среднего поля (DMFT). В настоящее время DMFT является универсальным и наиболее эффективным методом исследования состояний с сильными электронными корреляциями. В книге детально излагаются основы метода и даются его применения к различным классам таких систем. Книга рассчитана на широкий круг читателей: физиков-теоретиков и экспериментаторов, исследующих сильно коррелированные системы. Она будет полезна для студентов, аспирантов и всех тех, кто хочет ознакомиться с актуальной областью физики твердого тела.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
49
Российская конференция по электронной микроскопии.
XVIII Российская конференция по электронной микроскопии: Тезисы докладов / Рос. АН, Науч. совет по электронной микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов, Ин-т кристаллографии. — Черноголовка: Богородский печатник, 2000. — 338 с.: ил. — Авт. указ.: с. 331-338. — ISBN 5-89589-020-2: 76.80.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
50
Российская конференция по электронной микроскопии.
XXIVI Российская конференция по электронной микроскопии [Электронный ресурс] : материалы временных коллективов / Российская конференция по электронной микроскопии (Черноголовка). — Электрон. дан. — Черноголовка, 2012. — Загл. с диска. — 150.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи