| 96 |
|
Рентгенографический и электронно-оптический анализ: учеб. пособие для вузов по направлениям 550500-Металлургия, 651300-Металлургия, 651800-Физ. материаловедение / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. — 4-е изд., перераб. и доп. — М.: МИСИС, 2002. — 360 с.: ил. — ISBN 5-87623-096-0: 110.00.
|
| 97 |
|
XVII Российская конференция по электронной микроскопии: Тезисы докладов / Рос. АН, Науч. совет по электронной микроскопии, Ин-т кристаллографии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов. — Черноголовка: Богородский печатник, 1998. — 326 с.: ил. — Авт. указ.: с. 319-325. — ISBN 5-89589-004-0: 25.00.
|
| 98 |
|
Математическое моделирование систем формирования электронных и ионных пучков / Д. А. Овсянников, Н. В. Егоров ; Санкт-Петербургский государственный университет; Санкт-Петербургский государственный университет (СПб.). — СПб.: СПГУ, 1998. — 276 с.: ил. — ISBN 5-288-01530-9: 33.40.
|
| 99 |
|
Симметрия в физике : в 2-х т. / Дж. Эллиот, П. Добер ; пер. с англ. под. ред. И. С. Желудева, Д. А. Славнова. — М.; : Мир.
: Дальнейшие приложения. — М.: Мир, 1983. — 410 с.: ил. — Предм. указ.: с. 402-406. — Библиогр. в конце глав. — 1.70.
|
| 100 |
|
Электронные процессы в некристаллических веществах : в 2-х т. / Н. Ф. Мотт, Э. А. Дэвис ; пер.с англ. под ред. Б. Т. Коломийца. — 2-е изд., перераб. и доп. — М.; : Мир.
:. — М.: Мир, 1982. — 368 с.: ил. — 2.90.
|