Физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов : монография / А. А. Клопотов [и др.]; Нац. исслед. Томский политехнический ун-т, Томский гос. архитектурно-строительный ун-т, Сибирский физ.-техн. ин-т им. В. Д. Кузнецова (Томск). — Томск: Издательство Томского политехнического университета, 2013. — 263 с.: ил. — Библиогр.: с. 262-263. — ISBN 978-5-4387-0197-2.
В монографии представлены физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов. Приведены основы традиционных и современных методов рентгеноструктурного анализа в материаловедении. Отдельно выделены принципы кристаллогеометрии с использованием основ теории симметрии. Цель - разумное совмещение фундаментальности и прикладных (практических) методов решения конкретных научно-исследовательских и материаловедческих задач. По мере возможности авторы старались показать ясность и очевидность физических явлений, которые лежат в основе рентгеноструктурных методов. Предназначена для студентов, магистрантов, аспирантов и специалистов, занятых в этой области, а также будет полезно практикам, не имеющим специального образования.