Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия: учеб. для студ. вузов, обуч. по спец. "Физика металлов", "Металловедение , оборудование и технология термической обработки металлов" / Я. С. Уманский [и др.]. — М.: Металлургия, 1982. — 630 с.: ил. — Библиогр.: с.628-630. — 1.40.
Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и растровой электронной микроскопии. Описаны методы локального элементного анализа, основанные на различных видах взаимодействия быстрых электронов с веществом. Учебник предназначен для студентов металлургических и политехнических вузов, специализирующихся в области металлофизики, металловедения и физико-химических исследований материалов. Может быть полезен инженерам исследователям, работающим в области металлофизики, физического металловедения и физико-химических исследований, технологии производства и обработки металлических материалов.