| 41 |
|
Основы микродозиметрии: учеб. пособие для вузов / В. И. Иванов, В. Н. Лысцов. — М.: Атомиздат, 1979. — 192 с.: ил. — Библиогр.: с. 190. — 0.60.
|
| 42 |
|
VII Всесоюзное совещание по дозиметрии интенсивных потоков ионизирующих излучений (Обнинск, 22-24 ноября 1983 г.): тез. докл. / Госкомитет СССР по стандартам, Мин-во хим. пром-ти СССР, АН СССР, ВНИИ физ.-техн. и радиотехн. измерений. — М.: ВНИИФТРИ, 1983. — 190 с.: ил. — Библиогр. в конце докл. — 0.90.
|
| 43 |
|
Распад электронных возбуждений с образованием дефектов в твердых телах / Ч. Б. Лущик, А. Ч. Лущик. — М.: Наука, 1989. — 263 с.: ил. — Библиогр.: с. 246-261. — ISBN 5-02-014026-0: 4.10.
|
| 44 |
|
Физическая электроника : респ. межвед. науч.-техн. сб. / Львовский политехнический институт ; редкол. : И. Д. Набитович (отв. ред.) [и др.]. — Львов; : Вища школа.
:. — Львов, 1988. — 128 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 1.80.
|
| 45 |
|
Высокоскоростная деформация и разрушение диэлектриков под действием сильноточных электронных пучков: автореферат дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.07 / Г. И. Геринг ; оппоненты: К. П. Арефьев, Г. А. Воробьев, Ю. И. Мещеряков; Омский государственный университет им. Ф. М. Достоевского (Омск), Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН (М.), Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск). — Томск, 1994. — 38 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 35-38.
|