| 601 |
|
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер ; пер. с англ. под ред. В. В. Белошицкого. — М.: Мир, 1989. — 342, [2] с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-03-001017-3: 3.70.
|
| 602 |
|
Сегнетоэлектрики и антисегнетоэлектрики. Динамика решетки / Р. Блинц, Б. Жекш ; пер. с англ. под ред. Л. А. Шувалова. — М.: Мир, 1975. — 395, [1] с.: ил. — Библиогр.: с. 378-387. — 2.04.
|
| 603 |
|
Оптические свойства полупроводников / Ю. И. Уханов ; под ред. В. М. Тучкевича. — М.: Наука. Главная редакция физико-математической литературы, 1977. — 366, [2] с.: ил. — (Физика полупроводников и полупроводниковых приборов). — Библиогр.: с. 357-363. — 1.43.
|
| 604 |
|
Физика в двадцатом столетии / В. Вайскопф; Пер. с англ. — М.: Атомиздат, 1977. — 267, [5] с.: ил. — Библиогр.: с. 265. — 1.56.
|
| 605 |
|
Молекулярная физика: учеб. пособие для вузов / А. К. Кикоин, И. К. Кикоин. — 2-е изд., перераб. — М.: Наука. Главная редакция физико-математической литературы, 1976. — 478, [2] с.: ил. — (Общий курс физики). — 1.21.
|