Книга посвящена калориметрическому методу исследования и измерения ионизирующих излучений. В ней рассмотрены общие принципы метода, различные типы калориметрических установок и методические вопросы, связанные с их использованием. Подробно изложены вопросы применения калориметрического метода для измерения абсолютных активностей радиоактивных препаратов и определения спектрометрических характеристик и периодов полураспада радиоактивных изотопов. Отдельные главы посвящены калориметрическим измерениям на ускорительных установках и ядерных реакторах, а также применению калориметрии в дозиметрии, радиационной химии и радиационной физике.

В монографии анализируется влияние ионизирующих излучений (ИИ), преимущественно космического пространства, на характеристики изделий микро- и наноэлектроники. Рассмотрены: основы физики взаимодействий ИИ с полупроводниками; изменение электрофизических параметров приборных структур в результате образования наноразмерных дефектов под действием ИИ; дозовые ионизационные эффекты в структуре Si/Si02 и их влияние на характеристики приборов и микросхем; особенности радиационных испытаний изделий, изготовленных по МОП-, КМОП-, а также по биполярной технологии, на стойкость к воздействию низкоинтенсивного ИИ; одиночные события в изделиях микро- и наноэлектроники при воздействии отдельных заряженных частиц. Для технических специалистов, работающих в области электроники, а также для студентов и аспирантов.