Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 11 - 15 из 14014 для dc.subject any/relevant "рентгенострукту ... ( 0.680 сек.)

11
Мамонтов, Аркадий Павлович.
Эффект малых доз ионизирующего излучения: научное издание / А. П. Мамонтов, И. П. Чернов; Томский политехнический университет (Томск). — 2-е изд., перераб. и доп. — Томск: Дельтаплан, 2009. — 288 с.: ил. — Изд. осуществлено при финансовой поддержке РФФИ по проекту №09-08-07078; В монографии используются и развиваются оригинальные результаты, полученные при выполнении работ по гранту РФФИ (проект 93-02-02118). — Библиогр.: с. 270-282. — ISBN 978-5-94154-153-9: 240.00.
Обобщены экспериментальные и теоретические исследования воздействия малых доз ионизирующего излучения (рентгеновских лучей, y-квантов, электронов) на полупроводниковые монокристаллы, полупроводниковые структуры и приборы, металлы, сплавы, режущий, буровой и волочильный инструменты, а также исследования радиационно-стимулированной миграции, диффузии и выхода водорода из твердого тела. Заложена феноменологическая модель упорядочения структуры дефектных кристаллов и изменения физических и механических свойств материалов под действием ионизирующего излучения. Для научных и инженерно-технических работников, занимающихся радиационной физикой твердого тела, модификацией свойств полупроводников и металлов, проблемой материалов для термоядерных и ядреных реакторов. вопросами водородной энергетики. Полезна аспирантам, магистрам и студентам соответствующих специальностей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
12
Слепушкин, Вячеслав Васильевич.
Локальный электрохимический анализ: научное издание / В. В. Слепушкин, Ю. В. Рублинецкая. — М.: ФИЗМАТЛИТ, 2010. — 312 с.: ил. — Изд. осуществлено при поддержке РФФИ по проекту 09-03-07028-д, 09-03-02001-э д. — Библиогр.: с. 287-308. — ISBN 978-5-9221-1251-2: 140.50.
Изложены теоретические основы и техника эксперимента локального электрохимического анализа (ЛЭА) поверхности твердофазных материалов. Рассмотрены области практического использования методов ЛЭА для исследования и анализа поверхности металлов и сплавов, порошковых и композиционных материалов, а также поверхности печатных плат. полупроводниковых и наноструктур. Подробно описаны методики контроля качества защитных покрытий (толщина, состав, пористость, наличие дефектов), контроля оксидных и солевых слоев на поверхности печатных плат, контроля концентрационных профилей эпитаксиальных слоев в полупроводниковых структурах, исследования наноструктур, исследования процессов диффузии в металлических покрытиях и коррозионных процессов на поверхности металлических структур. Для специалистов в области физики и химии твердого тела, технологии электрохимических производств, для сотрудников центральных заводских лабораторий предприятий машиностроения и приборостроения, а также дл аспирантов и студентов соответствующих специальностей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
13
Байков, Юрий Алексеевич.
Физика конденсированного состояния: [учебное пособие] / Ю. А. Байков, В. М. Кузнецов ; рец.: Е. В. Юртов, А. Д. Гладун. — Москва: Бином. Лаборатория знаний, 2011. — 293 с.: ил.; 22 см. — (Учебник для высшей школы). — Библиогр.: с. 288-293. — ISBN 978-5-9963-0290-1: 330.00.
В учебном пособии помимо традиционно сложившихся разделов физики твердого тела отражены некоторые современные направления науки. такие как физика фотонных кристаллов, наномасштабная физика. фрактальные представления о структуре кристаллических тел. Теоретический материал каждой главы книги дополнен задачами с решениями. Для студентов и аспирантов высших технических учебных заведений, а также преподавателей физики и других естественно-научных дисциплин в технических вузах.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
14
Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел.
XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, 30 мая-2 июня 2011 г., Черноголовка: тезисы докладов / Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (XVII ; 30 мая - 2 июня 2011 г. ; Черноголовка) , Научный совет РАН по электронной микроскопии, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН (Черноголовка), Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН (М.), Российский фонд фундаментальных исследований (М.), Jeol, ОПТЭК, ООО "Системы для микроскопии и анализа", Oxford Instruments, Bruker, НТ-МДТ, SPECS, Евротек Дженерал, Энерголаб. — Черноголовка: ИПТМ, 2011. — 279 с.: ил.; 21 см. + 1o=эл. опт. диск (CD-ROM). — Библиогр. в конце докл. — ISBN 978-5-89589-054-7: 90.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
15
Готтштайн, Гюнтер.
Физико-химические основы материаловедения / Г. Готтштайн; пер. с англ. К. Н. Золотовой, Д. О. Чаркина под ред. В. П. Зломанова. — М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2009. — 400 с.: ил.; 25 см. — (Лучший зарубежный учебник). — Библиогр.: с. 375-383. — ISBN 978-5-94774-769-0: 356.40.
В учебном пособии, написанном известным специалистом из Германии, имеющим многолетнюю преподавательскую практику, изложены основы современного материаловедения. При этом в полной мере использованы фундаментальные понятия, представления и закономерности из других областей знаний - физики, химии, математики, а также кристаллографии и металлургии. Рассмотрены различные модели, в том числе на основе фазовых диаграмм и теории химической связи. Большое внимание уделено применению термодинамических подходов при изучении материалов. Подробно обсуждаются теория дефектов в кристаллических твердых телах, процессы кристаллизации и рекристаллизации, способы управления составом композиционных материалов, структурная организация в стеклах и полимерах. Книга очень хорошо иллюстрирована. Для студентов и аспирантов университетов, а также других вузов, готовящих специалистов в области наук о материалах.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи