| 86 |
|
Основы структурного анализа химических соединений: учеб. пособие / М. А. Порай-Кошиц. — 2-е изд., перераб. и доп. — М.: Высшая школа, 1989. — 188, [4] с.: ил., табл. — ISBN 5-06-000074-5: 0.40.
|
| 87 |
|
Справочное руководство по аналитической химии и физико-химическим методам анализа: [учеб. пособие] / И. В. Тикунова, Н. В. Дробницкая, А. И. Артеменко, Н. Н. Гаркавая. — М.: Высшая школа, 2009. — 413 с.: ил. — (Для высших учебных заведений). — Предм. указ.: с. 410-413. — Библиогр.: с. 409. — ISBN 978-06-005747-8: 710.00. |
| 88 |
|
Рентгеновская спектроскопия плазмы и свойства многозарядных ионов: сб. работ / АН СССР, Физический институт им. П. Н. Лебедева; отв. ред. тома И. И. Собельман. — М.: Наука, 1987. — 192 с.: ил. — (Труды Физического института им. П. Н. Лебедева АН СССР / гл. ред. Н. Г. Басов, 0203-5820). — Библиогр. в конце ст. — 2.70. |
| 89 |
|
Введение в структурный анализ нанокристаллов: учеб. пособие / С. В. Цыбуля, С. В. Черепанова ; рец. Ю. В. Шубин; Новосибирский государственный университет (Новосибирск), каф. физических методов исследования твердого тела. — Новосибирск: НГУ, 2009. — 87 с.: ил. — (Физика в НГУ). — Изд. подготовлено в рамках выполнения инновационно-образовательной программы "Инновационные образовательные программы и технологии, реализуемые на принципах партнерства классического университета, науки, бизнеса и государства" национального проекта "Образование". — Библиогр.: с. 79-84. — ISBN 978-5-94356-762-9: 123.00.
В пособии обсуждаются проблемы рентгеноструктурного анализа нанокристаллических материалов, излагаются современные рентгенографические методики исследования наноразмерных и наноструктурированных систем. Рассматриваются особенности рентгеновской дифракции для ID и 3D когерентных наноструктур. Пособие предназначено для магистрантов ФФ НГУ, обучающихся на кафедре физических методов исследования твердого тела, а также студентов других кафедр и факультетов, занимающихся исследованием структуры нанокристаллических материалов. Предполагается, что обучающиеся знакомы с началами кристаллографии и теории рассеяния рентгеновских лучей.
|
| 90 |
|
Качественный рентгенофазовый анализ / Е. К. Васильев, М. С. Нахмансон ; отв. ред. С. Б. Брандт; Институт земной коры СО АН СССР. — Новосибирск: Наука, 1986. — 199, [1] с.: ил., табл. — Библиогр.: с. 179-186. — 2.00.
Впервые обобщается обширный материал, полученный в результате изучения и анализа ряда систем автоматической индентификации, приведены материалы исследований авторов в области создания оригинальной системы автоматического рентгенофазового анализа, испытаний и тестирования системы, изучения качества информации, содержащейся в базе эталонных рентгенограмм. Рассматриваются математические основы качественного рентгенофазового анализа. Анализируются структура картотек эталонных рентгенограмм и их использование для решения задачи индентификации ручными методами. Монография рассчитана на геологов, физиков, химиков, материаловедов и металлургов, а также студентов соответствующих специальностей.
|