Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 51 - 55 из 9663 для dc.subject any/relevant "наноэлектроника ... ( 0.366 сек.)

51
Российская конференция по электронной микроскопии.
XXIVI Российская конференция по электронной микроскопии [Электронный ресурс] : материалы временных коллективов / Российская конференция по электронной микроскопии (Черноголовка). — Электрон. дан. — Черноголовка, 2012. — Загл. с диска. — 150.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
52
Астапенко, Валерий Александрович.
Введение в фемтонанофотонику: учеб. пособие по направлению "Прикладные математика и физика" / В. А. Астапенко; Моск. физ.-техн. ин-т (гос. ун-т). — М.: МФТИ, 2009. — 215 с.: ил.; 21 см. — Библиогр.: с. 214-215. — ISBN 978-5-7417-0268-0: 1074.34.
Учебное пособие посвящено изложению современных аспектов фотоники и нанофотоники, включая взаимодействие фемтосекундных лазерных импульсов с веществом. Рассматриваются вопросы, связанные с конфокальной и ближнеполевой сканирующей оптической микроскопией высокого разрешения, свойствами и использованием поверхностных плазмонов, перепутанными фотонными состояниями, статистическими свойствами фотонных полей, квантовыми излучателями и метаматериалами. Предназначено для студентов, специализирующихся в области физической и квантовой оптики, лазерной физики, квантовой электроники, оптоэлектроники и смежных дисциплин.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
53
Спенс, Джон.
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения / Д. Спенс ; пер с англ. под ред. В. Н. Рожанского. — М.: Наука, 1986. — 320 с.: ил. — Библиогр.: с. 313-320. — 3.70.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
54
Демин, Виктор Валентинович.
Оптические измерения : учеб. пособие / В. В. Демин, И. Г. Половцев, Г. В. Симонова ; Томский государственный университет (Томск), Институт мониторинга климатических и экологических систем СО РАН (Томск). — Томск; : Томский государственный университет , 2014.
:. — Томск: ТГУ, 2014. — 580 с. — Рекомендовано Учебно-методическим объединением вузов РФ по образованию в области приборостроения и оптотехники для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки бакалавриата 12.03.02 (200400) "Оптотехника", 12.03.03 (200700) "Фотоника и оптоинформатика", 12.03.05. (200500) "Лазерная техника и лазерные технологии", магистратуры 12.04.02 (200400) "Оптотехника", 12.04.03 (200700) "Фотоника и оптоинформатика", 12.04.05 (200500) "Лазерная техника и лазерные технологии" и специальности 12.05.01 (200401) "Электронные и оптико-электронные приборы и системы специального назначения". — ISBN 978-5-94621-436-0.
Учебное пособие содержит сведения по основам оптических измерений, информацию об оптических средствах и методах измерений, большое количество примеров из измерительной практики. Представлен справочный материал по нормативной и технической документации и геометрической оптикеДля студентов, обучающихся по направлениям подготовки бакалавров и магистров - "Оптотехника", "Фотоника и оптоинформатика", "Лазерная техника и лазерные технологии", а также по специальности "Электронные и оптико-электронные приборы и системы специального назначения". Представляет интерес для ученых и специалистов в области оптического приборостроения и измерительной техники.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
55
Пантелеев, В. Г.
Компьютерная микроскопия / В. Г. Пантелеев, В. Г. Егорова, Е. Н. Клыкова. — М.: Техносфера, 2005. — 304 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр.: с. 302-303. — ISBN 5-94836-025-3: 210.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи