Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 26 - 30 из 228 для dc.subject any/relevant "нанотехнология ... ( 0.182 сек.)

26
Словарь нанотехнологических и связанных с нанотехнологиями терминов: словарь / В. И. Балабанов и [др.]; под ред. С. В. Калюжного. — М.: Физматлит, 2010. — 527 с.: ил.; 24 см. — Библиогр. в конце разд. — Предм.-имен. указ.: с. 499-527. — ISBN 978-5-9221-1266-6: 702.24.
В словаре представлены основные понятия и определения, принятые в сфере нанотехнологий — современной междисциплинарной области научно-технической деятельности. Основу словаря составили термины, наиболее часто встречавшиеся в проектах, представленных на экспертизу в ГК «Роснанотех» в 2007—2010 гг. Кроме того, словарь содержит ряд терминов, не имеющих прямого отношения к нанотехнологиям, но являющихся полезными для понимания природы процессов, происходящих в наномасштабе. Словарь предназначен широкому кругу читателей : научным работникам, технологам, а также студентам профильных учебных заведений.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
27
Афонский, Александр Алексеевич.
Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике: монография / А. А. Афонский, В. П. Дьяконов; под ред. В. П. Дьяконова. — М.: ДМК Пресс, 2011. — 687 с.: ил.; 21 см. — Библиогр.: с. 679-687. — ISBN 978-5-94074-626-3: 899.00.
Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
28
Workshop "Nanostructured Materials Application and Innovation Transfer".
Nanoscience & nanotechnology. Nanostructured materials, application a. innovation transfer: proceedings of the Tenth Workshop "Nanostructured Materials Application and Innovation Transfer" / Workshop "Nanostructured Materials Application and Innovation Transfer" (11 ; Oktober 1 - 3, 2010 ; Varna, Bulgaria) , Bulgarian academy of sciences, National coordination council on nanotechnologies; ed.: E. Balabanova, I. Dragieva. — Sofia: BAS-NCCNT, 2009. — 261 с.: il.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
29
Asian school-conference on physics and technology of nanostructured materials.
Proceedings: материалы временных коллективов / Asian school-conference on physics and technology of nanostructured materials (2011 ; Vladivostok). — Vladivostok: Dalnauka, 2011. — 250 p.: ill. — Аdn. указ.: с. 249. — ISBN 978-5-8044-1206-8: 300.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
30
Multiscale modeling: from atoms to devices: сборник / ed.: P. Derosa, T. Cagin. — Boca Raton; London; New York: CRC press: Taylor & Francis group, 2011. — XIV,271 p.: ill.; 24 cm. — Bibliogr. at the end of the chapters. — ISBN 978-1-4398-1039-2: 2913.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи