| 1 |
|
Физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов : монография / А. А. Клопотов [и др.]; Нац. исслед. Томский политехнический ун-т, Томский гос. архитектурно-строительный ун-т, Сибирский физ.-техн. ин-т им. В. Д. Кузнецова (Томск). — Томск: Издательство Томского политехнического университета, 2013. — 263 с.: ил. — Библиогр.: с. 262-263. — ISBN 978-5-4387-0197-2.
В монографии представлены физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов. Приведены основы традиционных и современных методов рентгеноструктурного анализа в материаловедении. Отдельно выделены принципы кристаллогеометрии с использованием основ теории симметрии. Цель - разумное совмещение фундаментальности и прикладных (практических) методов решения конкретных научно-исследовательских и материаловедческих задач. По мере возможности авторы старались показать ясность и очевидность физических явлений, которые лежат в основе рентгеноструктурных методов. Предназначена для студентов, магистрантов, аспирантов и специалистов, занятых в этой области, а также будет полезно практикам, не имеющим специального образования.
|
| 2 |
|
Введение в структурный анализ нанокристаллов: учеб. пособие / С. В. Цыбуля, С. В. Черепанова ; рец. Ю. В. Шубин; Новосибирский государственный университет (Новосибирск), каф. физических методов исследования твердого тела. — Новосибирск: НГУ, 2009. — 87 с.: ил. — (Физика в НГУ). — Изд. подготовлено в рамках выполнения инновационно-образовательной программы "Инновационные образовательные программы и технологии, реализуемые на принципах партнерства классического университета, науки, бизнеса и государства" национального проекта "Образование". — Библиогр.: с. 79-84. — ISBN 978-5-94356-762-9: 123.00.
В пособии обсуждаются проблемы рентгеноструктурного анализа нанокристаллических материалов, излагаются современные рентгенографические методики исследования наноразмерных и наноструктурированных систем. Рассматриваются особенности рентгеновской дифракции для ID и 3D когерентных наноструктур. Пособие предназначено для магистрантов ФФ НГУ, обучающихся на кафедре физических методов исследования твердого тела, а также студентов других кафедр и факультетов, занимающихся исследованием структуры нанокристаллических материалов. Предполагается, что обучающиеся знакомы с началами кристаллографии и теории рассеяния рентгеновских лучей.
|
| 3 |
|
Использование уравнения переноса в томографии / Д. С. Аниконов, А. Е. Ковтанюк, И. В. Прохоров. — М.: Логос, 2000. — 224 с.: ил. — Библиогр.: с. 216-223. — ISBN 5-88439-055-6.
|
| 4 |
|
Parametric X-ray radiation in crystals: theory, experiments and applications / V. G. Baryshevsky, I. D. Feranchuk, A. P. Ulyanenkov. — Berlin ; Heidelberg; New York: Springer, 2005. — X,167 p.: ill.; 24 cm. — (Springer tracts in modern physics, 0081-3869). — Bibliogr. at the end of the chapters. — ISBN 3-540-26905-3: 150.00.
|
| 5 |
|
Neutrons and synchrotron radiation in engineering materials science: from fundamentals to materials and component characterization / ed. by W. Reimers [et al.]. — Weinheim: Wiley-VCH, 2008. — XXIV,436 p.: ill.; 25 cm. — Ind.: p. 421-436. — Bibliogr. at the end of the chapters. — ISBN 978-3-527-31533-8: 6274.00. |