| 1 |
|
Neutrons and synchrotron radiation in engineering materials science: from fundamentals to materials and component characterization / ed. by W. Reimers [et al.]. — Weinheim: Wiley-VCH, 2008. — XXIV,436 p.: ill.; 25 cm. — Ind.: p. 421-436. — Bibliogr. at the end of the chapters. — ISBN 978-3-527-31533-8: 6274.00. |
| 2 |
|
Рентгенографический и электронно-оптический анализ: учеб. пособие для вузов по направлениям 550500-Металлургия, 651300-Металлургия, 651800-Физ. материаловедение / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. — 4-е изд., перераб. и доп. — М.: МИСИС, 2002. — 360 с.: ил. — ISBN 5-87623-096-0: 110.00.
|
| 3 |
|
Введение в структурный анализ нанокристаллов: учеб. пособие / С. В. Цыбуля, С. В. Черепанова ; рец. Ю. В. Шубин; Новосибирский государственный университет (Новосибирск), каф. физических методов исследования твердого тела. — Новосибирск: НГУ, 2009. — 87 с.: ил. — (Физика в НГУ). — Изд. подготовлено в рамках выполнения инновационно-образовательной программы "Инновационные образовательные программы и технологии, реализуемые на принципах партнерства классического университета, науки, бизнеса и государства" национального проекта "Образование". — Библиогр.: с. 79-84. — ISBN 978-5-94356-762-9: 123.00.
В пособии обсуждаются проблемы рентгеноструктурного анализа нанокристаллических материалов, излагаются современные рентгенографические методики исследования наноразмерных и наноструктурированных систем. Рассматриваются особенности рентгеновской дифракции для ID и 3D когерентных наноструктур. Пособие предназначено для магистрантов ФФ НГУ, обучающихся на кафедре физических методов исследования твердого тела, а также студентов других кафедр и факультетов, занимающихся исследованием структуры нанокристаллических материалов. Предполагается, что обучающиеся знакомы с началами кристаллографии и теории рассеяния рентгеновских лучей.
|
| 4 |
|
Синхротронное излучение: методы исследования структуры веществ: [учеб. пособие для ст. курсов по специальности 020101 (011000) "Химия"] / Г. В. Фетисов; под ред. Л. А. Асланова. — М.: Физматлит, 2007. — 671 с.: ил.; 25 см. — (Фундаментальная и прикладная физика). — Предм. указ.: с. 664-671. — Библиогр.: с. 636-663. — ISBN 978-5-9221-0805-8.
Что такое синхротронное излучение (СИ), как оно получается и какими уникальными свойствами обладает? Что нового по сравнению с рентгеновскими лучами из рентгеновских трубок могут дать рентгеновские лучи из источников СИ для исследования атомной структуры веществ? Какие генераторы СИ уже есть в настоящее время и какие могут появиться в ближайшем будущем, где их можно найти и каковы их основные характеристики? Чем отличается проведение рентгеноструктурных и рентгеноспектральных экспериментов на СИ от измерений на лабораторных источниках рентгеновских лучей и какие специальные устройства требуются и уже существуют для таких экспериментов? Какие рентгеновские дифракционные и спектральные измерения стали возможны в последнее время только благодаря появлению доступного СИ и как их проводить, а также что принципиально нового можно узнать о веществе из результатов этих измерений? Именно об этом рассказывается в шести главах данной книги. Допущено УМО по классическому университетскому образованию в качестве учебного пособия для студентов старших курсов, обучающихся по специальности 020101 (011000) — Химия.
|
| 5 |
|
Высокоскоростная деформация и разрушение диэлектриков под действием сильноточных электронных пучков: автореферат дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.07 / Г. И. Геринг ; оппоненты: К. П. Арефьев, Г. А. Воробьев, Ю. И. Мещеряков; Омский государственный университет им. Ф. М. Достоевского (Омск), Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН (М.), Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск). — Томск, 1994. — 38 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 35-38.
|