Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 41 - 45 из 869 для dc.subject any/relevant "ЭЛЕКТРОННАЯ МИК ... ( 0.414 сек.)

41
Нанотехнологии в электронике / Н. И. Боргардт [и др.]; ред. Ю. А. Чаплыгин. — М.: Техносфера, 2005. — 448 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-94836-059-8: 110.00.
В коллективной монографии представлен комплекс исследований, который позволяет уже сейчас применять их результаты в актуальных прикладных разработках. Практическое применение принципов нанотехнологии демонстрируется на примерах создания оптических волокон с фотонно-кристаллической структурой, интегральных волноводов на основе субмикронных брэгговских решеток, нелинейно-оптических устройств преобразования частоты оптического излучения, формирования наноразмерных структур на основе высокотемпературных сверхпроводников, реализации датчиков магнитного поля и ИК-излучения, линейных измерений в нанометровом диапазоне. Книга написана ведущими специалистами МИЭТ на основе исследований и разработок последних лет.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
42
Брандон, Дэвид.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учеб. пособие для вузов / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова, с доп. О. В. Егоровой. — М.: Техносфера, 2006. — 377 с.: ил.; 24 см. — (Мир материалов и технологий). — Предм. указ.: с. 376-377. — Библиогр. в конце гл. — ISBN 5-94836-018-0: 168.00.
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
43
Брандон, Дэвид.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учеб. пособие для вузов / Д. Брандон, У. Каплан; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. — М.: Техносфера, 2004. — 384 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — Предм. указ.: с. 376-377. — Библиогр. в конце гл. — ISBN 5-94836-018-0: 210.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
44
Миронов, Виктор Леонидович.
Основы сканирующей зондовой микроскопии: учеб. пособие для вузов / В. Л. Миронов ; Рос. АН, Институт физики микроструктур; Институт физики микроструктур РАН. — М.: Техносфера, 2004. — 144 с.: ил. — (Мир физики и техники). — Библиогр.: с. 140-143. — ISBN 5-94836-034-2: 176.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
45
Богатство наномира. Фоторепортаж из глубин вещества / Е. А. Гудилин [и др.] ; под ред. Ю. Д. Третьякова. — М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2009. — 171 с.: ил.; 22 см. — (Нанотехнологии). — ISBN 978-5-9963-0108-9: 356.00.
Издание представляет собой альбом научных фотографий, полученных методами оптической, растровой и просвечивающей электронной микроскопии, в основном, сотрудниками химического факультета, факультета наук о материалах МГУ им. М.В. Ломоносова и ИОНХ им. Н. С. Курнакова РАН за последние несколько лет. Фотографии классифицированы по разделам, отражающим основные области научных интересов авторов данной книги и имеющим отношение к разработкам в области нанотехнологии. Отдельная глава, материал для которой предоставлен компанией НТ-МДТ, демонстрирует возможности методов сканирующей зондовой микроскопии. Для широкого круга читателей, интересующихся последними достижениями в современных областях химии, физики и материаловедения.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи