26 |
|
Методами рентгеноструктурного анализа и растровой электронной микроскопии установлено, что в поликристаллическом сплаве Pd3Fe при фазовом переходе А1 — L1 2 с увеличением степени дальнего атомного порядка происходит увеличение параметра кристаллической решетки и полных среднеквадратичных смещений, уменьшение микроискажений кристаллической решетки, уменьшение доли специальных границ в зернограничном ансамбле и увеличение доли двойниковых границ в спектре специальных границ, что приводит к увеличению степени текстурированности.
|
27 |
|
Исследовано структурно-фазовое состояние поверхностного слоя медной подложки, обработанного ионами титана. Методом рентгеноструктурного анализа установлено, что после обработки в поверхностном слое образуются интерметаллиды системы Cu—Ti. Методом растровой электронной микроскопии установлено, что в поверхностном слое формируется сетчатая микропористая структура с характерным поперечным размером горизонтальных и вертикальных элементов приблизительно 1—2 мкм.
|
28 |
|
Методами ренттеноструктурного анализа, растровой электронной микроскопии и микрорентгеноспектрального анализа исследовано изменение фазового состава сплава АМг5 в зоне термического влияния при сварке методом трения с перемешиванием. Проанализированы возможные причины изменения фазового состава.
|
29 |
|
Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / B. Fultz, J. Howe. — 3rd ed. — Berlin; Heidelberg; New York: Springer, 2008. — XIX,758 p.: ill.; 24 cm. — Bibliogr.: p. 677-689. — ISBN 978-3-540-73885-5: 3378.00.
|
30 |
|
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванова. — М.: Техносфера, 2006. — 256 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-94836-064-4: 168.00.
|