| 1 |
|
Растровая электронная микроскопия почв [Текст] / Г.В. Добровольский, С.А. Шоба. — М.: Изд-во Моск. ун-та, 1978. — 141, [3] с.: ил. — Библиогр.: с. 132-142. — 1.80.
|
| 2 |
|
Практическая растровая электронная микроскопия / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; под ред. Дж. Гоулдстейна, Х. Яковица ; пер.с англ. под ред. В. И. Петрова. — М.: Мир, 1978. — 656 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — Имен. и предм. указ.: с. 643-650. — Библиогр.: с. 615-642. — 4.70. |
| 3 |
|
Металловедение и термическая обработка стали : справочник в трех томах / под ред.: М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. — 3-е изд., перераб. и доп.
: Методы испытаний и исследования. — М.: Металлургия, 1983. — 352 с.: ил. — Библиогр. в конце глав; Предм. указ.: с. 348-352. — 50.00.
Третье издание (второе - в 1962 г.) переработано и дополнено материалами, отражающими современные достижения науки. В первом томе изложены методики современного металловедческого анализа: микроскопического, электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, микрорентгеноспектрального. Оже-спектрографии, мессбауэровского и других способов исследования строения металлов и сплавов. Приведены основные положения статистической обработки экспериментальных результатов. Для инженерно-технических и научных работников предприятий, лабораторий и научно-исследовательских организаций различных отраслей промышленности.
|
| 4 |
|
Металловедение и термическая обработка стали : справочник ; в трех томах / под ред.: М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. — 4-е изд., перераб. и доп.
:. — М.: Металлургия, 1991. — 304 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-229-00795-8: 0.47.
Четвертое издание, как и третье (1983 г.), состоит из трех томов (каждый из которых - в двух книгах). В книге первой первого тома изложены методики современного металлографического анализа: микроскопического, электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, рентгеноспектроскопического, микрорентгеноспектрального, нейтроноструктурного. Даны конкретные рекомендации осуществления этих методик, оценена эффективность их применения. Приведены методы математического планирования, обработки данных и оценки точности результатов. Сообщаются сведения о строении и свойствах элементов. Для инженерно-технических работников и специалистов предприятий и научно-исследовательских организаций металлургической и машиностроительной промышленности.
|
| 5 |
|
Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию: научное издание / Р. Ф. Эгертон ; пер. с англ. С. А. Иванова. — М.: Техносфера, 2010. — 304 с.: цв.ил. — (Мир физики и техники). — Библиогр.: с. 297-300; Предм. указ.: с. 223-228. — ISBN 978-5-94836-254-0: 583.22.
Растровые и просвечивающие электронные микроскопы стали незаменимыми приборами для исследований в материаловедении, полупроводниковой промышленности, нанотехнологиях, а также в биологии и медицине. В данной монографии излагается введение в теорию и современную практику электронной микроскопии. Книга предназначена для студентов старших курсов, которые хотели бы углубить свои знания об основных физических принципах микроскопии, для молодых специалистов, которые пользуются электронными микроскопами, а также для преподавателей вузов и исследователей.
|