| 36 |
|
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения / Д. Спенс ; пер с англ. под ред. В. Н. Рожанского. — М.: Наука, 1986. — 320 с.: ил. — Библиогр.: с. 313-320. — 3.70.
|
| 37 |
|
Рентгенографический и электронно-оптический анализ: учеб. пособие для вузов по направлениям 550500-Металлургия, 651300-Металлургия, 651800-Физ. материаловедение / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. — 4-е изд., перераб. и доп. — М.: МИСИС, 2002. — 360 с.: ил. — ISBN 5-87623-096-0: 110.00.
|
| 38 |
|
Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии / Р. З. Валиев, А. Н. Вергазов, В. Ю. Герцман; АН СССР, Институт проблем сверхпластичности металлов. — М.: Наука, 1991. — 231 с.: ил. — Библиогр.: с. 221-225. — ISBN 5-02-000195-3: 2.70.
|
| 39 |
|
Материаловедение [Электронный ресурс] : (методы анализа, лабораторные работы и задачи) / Ю. А. Геллер, А. Г. Рахштадт. — 4-е изд., переработ. и доп. — М.: Металлургия, 1975. — [447] с.: ил. — Электрон. версия печ. публикации.
|
| 40 |
|
Структурные и фазовые превращения в ряде сталей при статическом и динамическом режимах термической обработки: дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.07 / Ю. Ф. Иванов ; науч. конс.: Э. В. Козлов, В. В. Лопатин; Томский государственный архитектурно-строительный университет (Томск), Томский политехнический университет (Томск). — Томск, 2002. — 417 л.: ил. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 378-417.
|