Исследование электрически- и рекомбинационно-активных дефектов в кремнии и сплавах кремний-германий картирующим методом малодугового рассеяния света: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.05 / О. В. Астафьев ; науч. рук. В. П. Калинушкин, офиц. оппоненты: Э. И. Рау, В. В. Смирнов; Институт общей физики им. А. М. Прохорова РАН (М.), Научно-исследовательский и проектный институт редкоземельной промышленности "ГИРЕДМЕТ" (М.). — М., 1997. — 16 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 13-16.

Международный семинар по оптоэлектронике, Санкт-Петербург, 5-6 нояб. 1998 г.: тез. докл. / Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе РАН, Каф. оптоэлектроники С.-Петерб. гос. электротехн. ун-та. — СПб., 1998. — 72 с.: ил. — 7.25.

Технология материалов микро-, опто- и наноэлектроники: [учеб. пособие для вузов по направлению подгот. 210100 "Электроника и микроэлектроника"] / В. М. Рощин, М. В. Силибин. — Б.м., 2010. — 179, [1] с.: табл. — Библиогр.: с. 180. — ISBN 978-5-94774-910-6: 240.00.

Спектроскопия вакуумного ультрафиолета / А. Н. Зайдель, Е. Я. Шрейдер. — М.: Наука, 1967. — 471 с.: ил. — (Физика и техника спектрального анализа (библиотека инженера)). — Библиогр.: с. 470-471. — 1.74.

Материаловедение полупроводников и металловедение: учеб. пособие для вузов / С. С. Горелик, М. Я. Дашевский. — М.: Металлургия, 1973. — 500 с.: ил. — Библиогр.: с. 495-500. — 3.21.