Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 21 - 25 из 6953 для dc.subject any/relevant "ОПТИКА ЭЛЕКТРОН ... ( 0.314 сек.)

21
Gilman, John J.
Electronic basis of the strength of materials: монография / J.J. Gilman. — Cambridge: Cambridge univ. press, 2003. — X,280 p.: Ill.; 25 cm. — Bibliogr. at the end of the chapters. — ISBN 0-521-62005-8: 126.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
22
Изюмов, Юрий Александрович.
Электронная структура соединений с сильными корреляциями: научное издание / Ю. А. Изюмов, В. И. Анисимов. — М.: НИЦ "Регулярная и хаотическая динамика", 2008. — 376 с.: граф. — Библиогр.: с. 346-375. — ISBN 978-5-93972-695-5: 685.10.
Анализируется электронная структура и физические свойства сильно коррелированных систем (содержащих элементы с незаполненными 3d, 4d, 4f и 5f оболочками) на основе теории динамического среднего поля (DMFT). В настоящее время DMFT является универсальным и наиболее эффективным методом исследования состояний с сильными электронными корреляциями. В книге детально излагаются основы метода и даются его применения к различным классам таких систем. Книга рассчитана на широкий круг читателей: физиков-теоретиков и экспериментаторов, исследующих сильно коррелированные системы. Она будет полезна для студентов, аспирантов и всех тех, кто хочет ознакомиться с актуальной областью физики твердого тела.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
23
Фотонные кристаллы и нанокомпозиты: структурообразование, оптические и диэлектрические свойства = Photonic crystals and nanocomposites: structure formation, optical and dielectric properties / Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН (Красноярск), Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, Институт теоретической и прикладной механики им. С. А. Христиановича СО РАН (Новосибирск), Новосибирский институт органической химии СО РАН (Новосибирск), Институт геологии и минералогии им. В. С. Соболева СО РАН (Новосибирск), Институт автоматики и электрометрии СО РАН (Новосибирск), Институт катализа им. Г. К. Борескова СО РАН (Новосибирск), Институт лазерной физики СО РАН (Новосибирск), Специальное конструкторско-технологическое бюро "Наука" КНЦ; отв. ред.: В. Ф. Шабанов, В. Я. Зырянов. — Новосибирск: Изд-во Сиб. отд-ния Рос. акад. наук, 2009. — 252, [4] с.: ил.; 25 см. — (Интеграционные проекты СО РАН). — Авт. указаны на 252-й с.; Работа выполнена в рамках Интеграционного проекта СО РАН № 33 "Развитие физико-химических основ создания фотонно-кристаллических структур для СВЧ- и оптоэлектронной техники", а также при частичной финансовой поддержке РФФИ, проекты № 07-02-0011, 08-03-01007. — Библиогр.: с. 232-251. — ISBN 978-5-7692-0669-6. — ISBN 978-5-7692-1096-9: 5.00.
Монография посвящена новому направлению в современной оптике и микроэлектронике, связанному с изучением фотонных кристаллов - структурно упорядоченных сред с масштабом периодичности, соразмерным длине волны электромагнитного излучения. Представлены результаты исследований коллектива авторов, выполненных в рамках интеграционного проекта СО РАН в 2006-2008 гг. Объектами теоретических и экспериментальных исследований явились различные фотонно-кристаллические структуры (опалы, мультислойные среды, упорядоченные микрокомпозиты и наноколлоиды, микрополосковые структуры), материалов и технологии для их формирования, методы управления оптическими и диэлектрическими свойствами. Книга предназначена специалистам по оптике, лазерной технике, спектроскопии конденсированных сред, материаловедению, нанофотонике, СВЧ-электронике, а также преподавателям и аспирантам соответствующих специальностей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
24
Карькина, Лидия Евгеньевна.
Моделирование атомной структуры дефектов в кристаллах: монография / Л. Е. Карькина, Л. И. Яковенкова ; отв. ред. Е. П. Романов, рец.: В. В. Попов, В. Г. Мазуренко; Институт физики металлов УрО РАН (Екатеринбург). — Екатеринбург: УрО РАН, 2011. — 462 с.: ил.; 21 см. — (Научно-образовательная серия "Физика конденсированных сред"). — Библиогр.: с. 446-459. — ISBN 978-5-7691-2236-1: 360.00.
Книга посвящена одному из современных методов исследований в материаловедении - моделированию атомной структуры дефектов. Включает в себя методически последовательное изложение взаимосвязанных разделов в физике реальных кристаллов, таких как структура и энергия точечных и планарных дефектов, структура ядра дислокаций, компьютерное моделирование взаимодействия дефектов, динамические процессы радиационных повреждений в металлах и сплавах; атомистические расчеты структуры основного состояния микрокластеров и кинетики их превращений и др. Перечисленные разделы являются достаточно устоявшимися направлениями в физике реальных кристаллов и ведены в курсы лекций для студентов физико-технического и металлургического факультетов УрФУ. Большое внимание уделяется связи результатов атомистических расчетов с особенностями поведения реальных металлов и сплавов при деформации, разрушении, радиационном повреждении, фазово-структурных превращениях. Систематизирован богатый литературный материал и результаты работы авторов по изучению дислокационной структуры, особенностей деформации и разрушения монокристаллического Ti3Al. Книга адресована научным работникам, магистрам, аспирантам и студентам старших курсов физико-технических специальностей, а также изучающим дефекты и их влияние на свойства твердых тел.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
25
Павлов, Анатолий Васильевич.
Оптико-электронные приборы (Основы теории и расчета): научное издание / А. В. Павлов. — М.: Энергия, 1974. — 360 с. — Библиогр.: с. 349-352. — 1.94.
В книге излагаются сведения о теоретических и физических основах оптико-электронных приборов и методах их расчета. Рассматриваются основные законы излучения, характеристики источников излучения. Излагаются сведения об оптических системах приборов. Приводятся методы расчета характеристик источников и приемников излучения, прозрачности атмосферы, параметров оптико-электронных приборов с учетом ослабления излучения в атмосфере и влияния фонов. Даются рекомендации для обоснования оптимальных в рассматриваемых условиях приемников излучения. Книга рассчитана на инженерно-технических работников, занимающихся разработкой и проектированием оптико-электронных приборов. Она будет полезна также студентам вузов, специализирующимся в этой области.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи