Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учеб. пособие / В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов ; рец.: В. А. Неронов, В. А. Аксенов. — М.: Флинта: Наука, 2007. — 224 с.: ил.; 22 см. — Допущено УМО вузов РФ по образованию в обл. материаловедения, технологии материалов и покрытий в качестве учеб. пособия по дисциплине "Физические методы исследования материалов" для студентов вузов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров и магистров 150600 (551600) - "Материаловедение и технология новых материалов" и дипломир. специалистов по специальностям 150601 (071000) - "Материаловедение и технология новых материалов" и 150501 (120800) - "Материаловедение в машиностроении". — ISBN 978-5-02-034811-0 (Наука). — ISBN 978-5-9765-0207-9 (Флинта): 302.
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов и преподавателей технических вузов.