1 |
|
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2-х кн. / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой, под ред. В. И. Петровой. — М.; : Мир.
:. — М.: Мир, 1984. — 303, [1] с.: ил., табл. — 3.00.
|
2 |
|
Практическая растровая электронная микроскопия / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; под ред. Дж. Гоулдстейна, Х. Яковица ; пер.с англ. под ред. В. И. Петрова. — М.: Мир, 1978. — 656 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — Имен. и предм. указ.: с. 643-650. — Библиогр.: с. 615-642. — 4.70.
|
3 |
|
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2-х кн. / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой, под ред. В. И. Петровой. — М.; : Мир.
:. — М.: Мир, 1984. — 348 с.: ил. — Предм. указ.: с. 342-346. — Библиогр.: с. 318-341. — 3.10.
|
4 |
|
XXIVI Российская конференция по электронной микроскопии [Электронный ресурс] : материалы временных коллективов / Российская конференция по электронной микроскопии (Черноголовка). — Электрон. дан. — Черноголовка, 2012. — Загл. с диска. — 150.00.
|
5 |
|
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения / Д. Спенс ; пер с англ. под ред. В. Н. Рожанского. — М.: Наука, 1986. — 320 с.: ил. — Библиогр.: с. 313-320. — 3.70.
|