Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 41 - 45 из 6672 для dc.subject any/relevant "ОКРУЖАЮЩАЯ СРЕД ... ( 0.308 сек.)

41
Руководство по аналитической химии / пер. с нем. В. В. Кузнецова, Л. Б. Кузнецовой, под ред. Ю. А. Клячко. — М.: Мир, 1975. — 462, [2] с.: ил., табл. — Предм. указ.: с. 451-457. — Библиогр. в конце глав. — 3.25.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
42
Цитович, Игорь Константинович.
Курс аналитической химии: учебник / И. К. Цитович. — 8-е изд., стер. — СПб.; М.; Краснодар: Лань, 2004. — 495, [1] с.: ил., табл.; 22 см. — (Учебники для вузов. Специальная литература). — Предм. указ.: с. 475-485. — ISBN 5-8114-0553-7: 317.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
43
Эткинс, Питер.
Молекулы / П. Эткинс ; пер. с англ. А. А. Кирюшкина. — М.: Мир, 1991. — 215, [1] с.: ил. — Предм. указ.: с. 207-211. — Библиогр.: с. 206. — ISBN 5-03-001208-7: 3.00.
Автор книги - известный английский ученый, плодотворно работающий в области физической химии. Одновременно он известен и как талантливый популяризатор, умеющий доходчиво, наглядно и остроумно излагать и объяснять самые сложные понятия. Автор знакомит читателя с тем, как построены молекулы 160 химических веществ, наболее важных для жизни и практической деятельности человека. Книга богато иллюстрирована. Для широкого круга читателей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
44
Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел.
XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, 30 мая-2 июня 2011 г., Черноголовка: тезисы докладов / Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (XVII ; 30 мая - 2 июня 2011 г. ; Черноголовка) , Научный совет РАН по электронной микроскопии, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН (Черноголовка), Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН (М.), Российский фонд фундаментальных исследований (М.), Jeol, ОПТЭК, ООО "Системы для микроскопии и анализа", Oxford Instruments, Bruker, НТ-МДТ, SPECS, Евротек Дженерал, Энерголаб. — Черноголовка: ИПТМ, 2011. — 279 с.: ил.; 21 см. + 1o=эл. опт. диск (CD-ROM). — Библиогр. в конце докл. — ISBN 978-5-89589-054-7: 90.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
45
Современные проблемы физической химии поверхности полупроводников: сб. науч. тр. / АН СССР, Сиб. отд-ние, Институт физики полупроводников; отв. ред. : А. В. Ржанов, С. М. Репинский. — Новосибирск: Наука, 1988. — 239, [1] с.: ил., табл. — Библиогр. в конце ст. — ISBN 5-02-028640-0: 3.90.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи