Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учеб. пособие для вузов / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова, с доп. О. В. Егоровой. — М.: Техносфера, 2006. — 377 с.: ил.; 24 см. — (Мир материалов и технологий). — Предм. указ.: с. 376-377. — Библиогр. в конце гл. — ISBN 5-94836-018-0: 168.00.
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.