Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 51 - 55 из 7525 для dc.subject any/relevant "НАНОСТРУКТУРНЫЕ ... ( 0.461 сек.)

51
Чертова, Надежда Васильевна.
Спектр нормальных колебаний дислокационного ансамбля в вязкопластической среде: научное издание / Н. В. Чертова; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск) // Прикладная механика и техническая физика / Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние. — 2000. — Том41, N1 . — С. 182-185. — ISSN 0869-5032.
В рамках калибровочной модели упругого тела с дефектами получены динамические уравнения дислокационного ансамбля. С учетом аналогии между полученными уравнениями и уравнениями Максвелла в электродинамике записано определяющее соотношение, связывающее поле дефектов с материальным континуумом. В феноменологических теориях пластичности данное соотношение соответствует определению вязкопластического тела. Рассчитаны дисперсионные соотношения и конфигурации нормальных колебаний дислокационного ансамбля в вязкопластической среде.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
52
Гриняев, Юрий Васильевич.
Анализ полной деформации в континуальной теории дефектов: научное издание / Ю. В. Гриняев, Н. В. Чертова; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск) // Известия высших учебных заведений. Физика : Ежемесячный научный журнал / Министерство образования и науки Российской Федерации. Федеральное агентство по образованию. Томский госуниверситет. — 1996. — Том39, N2 . — С. 113-114. — ISSN 0021-3411.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
53
Ласко, Галина Васильевна.
Моделирование локализации деформации на мезомасштабном уровне методом элементов релаксации: дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / Г. В. Ласко ; науч. рук.: В. Е. Панин, Е. Е. Дерюгин; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск). — Томск, 1999. — 152 с.: ил. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 142-152.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
54
Брандон, Дэвид.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учеб. пособие для вузов / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова, с доп. О. В. Егоровой. — М.: Техносфера, 2006. — 377 с.: ил.; 24 см. — (Мир материалов и технологий). — Предм. указ.: с. 376-377. — Библиогр. в конце гл. — ISBN 5-94836-018-0: 168.00.
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
55
Брандон, Дэвид.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учеб. пособие для вузов / Д. Брандон, У. Каплан; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. — М.: Техносфера, 2004. — 384 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — Предм. указ.: с. 376-377. — Библиогр. в конце гл. — ISBN 5-94836-018-0: 210.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи