| 21 |
|
Связные модели физико-химических превращений в твердых средах с учетом деформирования и разрушения: дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.07, 01.02.04 / А. Г. Князева; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск). — Томск, 1996. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 405-444.
|
| 22 |
|
Высокоэнергетическая электроника / Д. И. Вайсбурд [и др.] ; отв. ред. Д. И. Вайсбурд; АН СССР, Сиб. отд-ние, Институт сильноточной электроники. — Новосибирск: Наука. Сибирское отделение, 1982. — 224 с.: ил. — Библиогр.: с. 219-225. — 2.30. |
| 23 |
|
Исследование упругопластических характеристик сплава Ti49.5Ni50.5, модифицированного облучением, методом динамического наноиндентирования: научное издание / Л. Л. Мейснер [и др.]; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск), Томский государственный университет (Томск) // Физическая мезомеханика. — 2004. — Том7, NСпец. вып. ч.1 . — С. 272-274. — ISSN 1029-9599. В данной работе изучались упругопластические свойства тонких поверхностных слоев сплава Ti49.5Ni50.5, модифицированного электрохимическим способом и облученного ионным и электронным низкоэнергетическим пучками, методом динамического наноиндентирования. Проведен сравнительный анализ диаграмм динамического нагружения, временных разверток импульса нагружения и разгрузки для сплава Ti49.5Ni50.5 с электролитически полированной поверхностью. Построены зависимости динамической твердости, модуля Юнга от глубины индентирования для всех трех видов поверхностных обработок исследуемого сплава.??.
|
| 24 |
|
Радиационная дозиметрия : электронные пучки с энергиями от 1 до 50 МэВ: Доклад 35-й Международной комиссии по радиационным единицам и измерениям / под ред. Г. Б. Радзиевского; пер. с англ. М. Ш. Вайнберга. — М.: Энергоатомиздат, 1988. — 280 с.: ил. — Библиогр.: с. 262-278. — ISBN 5-283-02946-8: 3.10. |
| 25 |
|
Дополнение к сборнику тезисов докладов Всесоюзного симпозиума по сильноточной электронике / Ин-т сильноточной электроники СО АН СССР. — Томск: Институт сильноточной электроники, 1978. — 37 с. — Библиогр. в конце тез. — 0.30.
|