Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 11 - 15 из 757 для dc.subject any/relevant "МЕТРОЛОГИЯ ЗАКО ... ( 0.082 сек.)

11
Новиков, Николай Юрьевич.
Теория шкал: принципы построения эталонных процедур измерения, кодирования и управления / Н. Ю. Новиков. — Москва: Физматлит, 2009. — 498, [4] с.: ил. — Предм. указ.: с. 483-490. — ISBN 978-5-9221-1115-7: 130.00.
В книге изложен новый, достаточно общий и эффективный подход к проблемам измерения, кодирования и управления. Впервые в основу определений шкалы, единицы измерения, эталона и математических интерпретаций междисциплинарных теорий измерения, кодирования и управления положены фундаментальные конструкции анализа — фильтры Картана, направленности (обобщенные последовательности) Мура и Смита, методы теории множеств, топологии и функционального анализа. Полученные результаты применимы при построении шкал и создании эталонов в самых разнообразных классических и неклассических направлениях современной метрологии и теории управления, в математической и технической физике.Для широкого круга специалистов и научных работников, использующих современные информационные технологии в области естественных, технических, биологических и социальных наук, а также для аспирантов и студентов высших учебных заведений.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
12
Электрические измерения неэлектрических величин / под ред. П. В. Новицкого. — 5-е изд., перераб. и доп. — Л.: Энергия. Ленинградское отделение, 1975. — 575, [1] с.: ил., табл. — Библиогр.: с. 559-570. — 2.27.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
13
International Symposium on measurement technology and intelligent instruments.
ISMTII-2009 [Electronic resource]. — Электрон. текстовые дан. — S.l. — Электрон. версия печ. публикации. — Загл. с титул. экрана.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
14
Афонский, Александр Алексеевич.
Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике: монография / А. А. Афонский, В. П. Дьяконов; под ред. В. П. Дьяконова. — М.: ДМК Пресс, 2011. — 687 с.: ил.; 21 см. — Библиогр.: с. 679-687. — ISBN 978-5-94074-626-3: 899.00.
Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
15
Сергеев, Алексей Георгиевич.
Нанометрология: монография / А. Г. Сергеев ; рец.: С. М. Аракелян, В. Е. Ютт. — Москва: Логос, 2011. — 413 с.: ил.; 22 см. — Библиогр.: с. 409-413. — ISBN 978-5-98704-494-0: 768.00.
Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциями - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрлогического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологии, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи