Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 396 - 400 из 1528 для dc.subject any/relevant "МЕТАЛЛЫ ЭЛЕКТРО ... ( 0.239 сек.)

396
Брандон, Дэвид.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учеб. пособие для вузов / Д. Брандон, У. Каплан; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. — М.: Техносфера, 2004. — 384 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — Предм. указ.: с. 376-377. — Библиогр. в конце гл. — ISBN 5-94836-018-0: 210.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
397
Таиров, Юрий Михайлович.
Технология полупроводниковых и диэлектрических материалов: учеб. пособие для вузов / Ю. М. Таиров, В. Ф. Цветков. — 3-е изд., стереотип. — СПб.: Лань, 2002. — 424 с.: ил. — (Учебники для вузов. Специальная литература). — Предм. указ.: с. 419-421. — Библиогр.: с. 418. — ISBN 5-8114-0438-7: 110.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
398
Surface analysis methods in materials science / ed.: D. J. O'Connor [et al.]. — Berlin: Springer, 2002. — 585 с.: ill. — (Springer series in surface sciences). — Ind.: p. 579-585. — Bibliogr. at the end of the chapters. — ISBN 3-540-41330-8: 520.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
399
Николайчук, Олег Игоревич.
x51-совместимые микроконтроллеры фирмы Cygnal / О. И. Николайчук. — М.: ИД СКИМЕН, 2002. — 472 с.: ил. — ISBN 5-94929-002-X: 146.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
400
Боуэн, Д. К.
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография / Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер ; отв. ред. И. Л. Шульпина. — СПб.: Наука, 2002. — 274 с.: 147 ил. — Парал. тит. лист англ. — Предм. указ.: с. 271-274. — Библиогр.: с. 269-270. — ISBN 5-02-024963-7.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи