Микроскопические методы исследования материалов: научное издание / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженов; Институт синтетических полимерных материалов им. Н. С. Ениколопова РАН. — М.: Техносфера, 2007. — 376 с.: рис. — (Мир материалов и технологий). — Издание осуществлено при финансовой поддержке РФФИ по проекту № 07-03-07015-д. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 1-85573-587-3(англ.). — ISBN 978-5-94836-121-5: 281.00.
За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов. используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований. как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические - например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым. специалистам в области материаловедения, аспирантам.